摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-28页 |
·问题的提出及研究意义 | 第9-12页 |
·问题的提出 | 第9-11页 |
·课题研究的重要意义 | 第11-12页 |
·国内外研究现状 | 第12-27页 |
·覆冰绝缘子闪络特性及影响因素研究 | 第12-18页 |
·覆冰绝缘子放电机理及模型研究 | 第18-27页 |
·本论文研究的主要内容 | 第27-28页 |
2 绝缘子人工覆冰闪络试验 | 第28-48页 |
·绝缘子人工覆冰试验装置 | 第28-31页 |
·大型多功能人工气候室 | 第28-29页 |
·试验电源 | 第29-30页 |
·测量系统 | 第30-31页 |
·试品 | 第31-33页 |
·绝缘子人工覆冰试验方法 | 第33-40页 |
·绝缘子人工覆冰试验程序 | 第33-35页 |
·覆冰绝缘子的电气特性试验方法 | 第35-39页 |
·高海拔低气压的人工模拟方法 | 第39-40页 |
·平均闪络电压法和“U 形曲线法”试验结果的统计特性分析 | 第40-44页 |
·试验电压值的概率分布特性 | 第40-43页 |
·50%放电电压的确定及试验次数的选取 | 第43-44页 |
·不同电气试验方法下覆冰绝缘子(串)冰闪特性比较 | 第44-46页 |
·本章小结 | 第46-48页 |
3 低气压下覆冰绝缘子(长)串闪络特性 | 第48-74页 |
·低气压下覆冰瓷、玻璃及复合绝缘子(长)串直流闪络特性 | 第48-66页 |
·瓷、玻璃绝缘子串直流冰闪电压与串长的关系 | 第48-51页 |
·U_(50%)与监测导体冰厚d 的关系 | 第51-55页 |
·SDD 对U_(50%)的影响 | 第55-60页 |
·气压对U_(50%)的影响 | 第60-65页 |
·高海拔、污秽、覆冰综合作用下绝缘子(串)直流冰闪电压校正 | 第65-66页 |
·绝缘子串布置方式对其直流冰闪电压U_(50%)的影响 | 第66-69页 |
·特高压复合绝缘子短样直流与交流覆冰闪络特性及其比较 | 第69-72页 |
·直流及交流下SDD 对U_(50%)的影响 | 第69-71页 |
·直流及交流下气压P 对U_(50%)的影响 | 第71-72页 |
·本章小结 | 第72-74页 |
4 低气压下染污覆冰绝缘子串直流放电过程 | 第74-103页 |
·低气压下染污覆冰绝缘子串直流闪络发展过程 | 第74-93页 |
·电弧发展现象 | 第74-90页 |
·临界闪络电流 | 第90-93页 |
·低气压下染污覆冰绝缘子串直流电弧发展特性 | 第93-99页 |
·不同气压下直流电弧长度随放电时间的变化 | 第93-97页 |
·不同气压下直流电弧发展速度随放电时间的变化 | 第97-99页 |
·影响覆冰绝缘子放电局部电弧发展的因素探讨 | 第99-101页 |
·本章小结 | 第101-103页 |
5 低气压下染污覆冰绝缘子串直流放电模型研究 | 第103-129页 |
·低气压下染污覆冰表面沿面电弧特性 | 第103-110页 |
·试验装置、试品及试验方法 | 第103-106页 |
·染污覆冰表面沿面电弧伏安特性 | 第106-110页 |
·染污覆冰表面剩余冰层等效表面电导率 | 第110-113页 |
·试验方法 | 第110-111页 |
·试验结果 | 第111-113页 |
·低气压下冰棱空气间隙电弧伏安特性 | 第113-116页 |
·试验装置、试品及试验方法 | 第113-114页 |
·低气压下冰棱空气间隙电弧伏安特性试验结果 | 第114-116页 |
·低气压下染污覆冰绝缘子串直流放电模型及验证 | 第116-127页 |
·覆冰绝缘子放电数学模型简介 | 第116-118页 |
·低气压下染污覆冰绝缘子串多电弧直流放电模型 | 第118-125页 |
·低气压下染污覆冰绝缘子串多电弧直流放电模型的试验验证 | 第125-127页 |
·本章小结 | 第127-129页 |
6 结论 | 第129-131页 |
·本文结论 | 第129-130页 |
·后续研究工作的展望 | 第130-131页 |
致谢 | 第131-132页 |
参考文献 | 第132-141页 |
附录 | 第141-144页 |
A. 作者在攻读博士学位期间发表的论文目录 | 第141-143页 |
B. 作者在攻读博士学位期间获奖情况 | 第143-144页 |
C. 作者在攻读博士学位期间参与的科研项目 | 第144页 |