| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-13页 |
| 1 绪论 | 第13-21页 |
| ·引言 | 第13-14页 |
| ·航天固态存储器的应用背景介绍 | 第14-18页 |
| ·国外应用现状 | 第14-16页 |
| ·国外大容量存储器技术的发展趋势 | 第16-17页 |
| ·国内应用现状 | 第17-18页 |
| ·本课题的研究内容和意义 | 第18-19页 |
| ·研究内容 | 第18-19页 |
| ·意义 | 第19页 |
| ·本文的组织 | 第19-21页 |
| 2 系统方案设计 | 第21-39页 |
| ·系统方案概述 | 第21-24页 |
| ·计算机及XX 接口单元原理图和安装示意图 | 第21-23页 |
| ·CPU 地址空间分配 | 第23-24页 |
| ·存储芯片的选型及特点介绍 | 第24-32页 |
| ·FLASH 芯片的选型 | 第24页 |
| ·MMFN08408808S-F 芯片特点介绍 | 第24-32页 |
| ·RAM 纠错方案 | 第32-34页 |
| ·三模冗余 | 第32-33页 |
| ·EDAC 原理 | 第33-34页 |
| ·RAM 纠错方案的选择 | 第34页 |
| ·存储与控制逻辑方案 | 第34-36页 |
| ·逻辑程序设计中复位方案的选择 | 第36-39页 |
| ·同步复位的特点 | 第36页 |
| ·异步复位的特点 | 第36-37页 |
| ·异步复位、同步释放 | 第37-39页 |
| 3 存储及控制逻辑设计 | 第39-69页 |
| ·LIBERO 开发环境介绍 | 第39-42页 |
| ·ACTEL 公司APA 系列FPGA 的特点 | 第42-44页 |
| ·Verilog HDL 语言介绍 | 第44-45页 |
| ·存储与控制逻辑设计 | 第45-69页 |
| ·CLK_MANAGE 模块 | 第46-48页 |
| ·SRAM 及EDAC 模块 | 第48-51页 |
| ·CPU 地址译码、寄存器管理和中断管理模块 | 第51-54页 |
| ·CPU 复位信号产生模块 | 第54-55页 |
| ·指令接收模块 | 第55-57页 |
| ·FLASH 管理模块 | 第57-59页 |
| ·FLASH 初始化模块 | 第59-61页 |
| ·FLASH 页查找模块 | 第61-62页 |
| ·FLASH 块擦除模块 | 第62-63页 |
| ·FLASH 页写模块 | 第63-64页 |
| ·FLASH 数据块回放模块 | 第64-67页 |
| ·FLASH 字节写模块 | 第67页 |
| ·FLASH 字节读模块 | 第67-69页 |
| 4 预研工作 | 第69-75页 |
| ·改进的汉明码（ECC）介绍 | 第69-71页 |
| ·ECC 仿真验证 | 第71-72页 |
| ·对FLASH 坏块进行标记和对整页数据进行编码纠错的一种方案 | 第72-75页 |
| 5 软件设计 | 第75-81页 |
| ·Keil uVision2 软件介绍 | 第75-76页 |
| ·Keil uVision2 项目管理 | 第75页 |
| ·编辑器和调试器 | 第75-76页 |
| ·软件设计 | 第76-81页 |
| ·PCU 主控软件 | 第76-77页 |
| ·FLASH 存储中断函数 | 第77-80页 |
| ·FLASH 存储程序 | 第80-81页 |
| 6 测试用例及测试结果 | 第81-87页 |
| ·测试用例 | 第81-83页 |
| ·测试结果 | 第83-87页 |
| ·SRAM 读写测试结果（对应测试用例1） | 第83页 |
| ·CPU 复位测试结果（对应测试用例4） | 第83-84页 |
| ·FLASH 块擦除测试结果（对应测试用例8） | 第84-86页 |
| ·FLASH 页写测试结果（对应测试用例9） | 第86-87页 |
| 7 总结与展望 | 第87-89页 |
| ·研制总结 | 第87页 |
| ·下一步的工作展望 | 第87页 |
| ·结束语 | 第87-89页 |
| 参考文献 | 第89-91页 |
| 附录1 | 第91-93页 |
| 致谢 | 第93页 |