| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-24页 |
| ·课题背景 | 第9页 |
| ·空间粒子辐照环境及其效应 | 第9-14页 |
| ·空间粒子辐照环境 | 第10-11页 |
| ·空间粒子辐照环境效应 | 第11-13页 |
| ·空间粒子辐照试验 | 第13-14页 |
| ·聚合物的空间粒子辐照损伤及其回复效应 | 第14-17页 |
| ·聚合物的空间粒子辐照损伤效应 | 第14-16页 |
| ·聚合物的粒子辐照损伤回复 | 第16-17页 |
| ·聚合物辐照的顺磁缺陷及其测试方法 | 第17-23页 |
| ·顺磁缺陷的EPR 测试 | 第17-19页 |
| ·EPR 测试的原理及应用 | 第19-21页 |
| ·聚合物辐照的顺磁缺陷及其演化 | 第21-23页 |
| ·本文主要研究内容 | 第23-24页 |
| 第2章 试验材料、设备及试验方法 | 第24-34页 |
| ·试验材料 | 第24页 |
| ·Kapton 表面沉积Si0_2 薄膜 | 第24-25页 |
| ·质子辐照试验 | 第25-29页 |
| ·空间辐照环境地面模拟设备 | 第25-27页 |
| ·辐照试验参数选择 | 第27页 |
| ·质子辐照的SRIM 模拟分析 | 第27-29页 |
| ·分析测试方法 | 第29-34页 |
| ·光学性能测试 | 第29-30页 |
| ·电子顺磁共振分析 | 第30-32页 |
| ·X 射线光电子能谱分析 | 第32-33页 |
| ·红外光谱分析 | 第33页 |
| ·表面形貌分析 | 第33-34页 |
| 第3章 质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能演化及辐照缺陷的EPR 分析 | 第34-50页 |
| ·质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能损伤和演化规律 | 第34-41页 |
| ·Si0_2 薄膜改性对质子辐照Kapton 光学性能的影响 | 第34-37页 |
| ·质子辐照Kapton 光学性能回复特征 | 第37-39页 |
| ·质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能回复特征 | 第39-41页 |
| ·质子辐照Si0_2/Kapton 的自由基缺陷演化规律 | 第41-47页 |
| ·Si0_2 薄膜改性对质子辐照Kapton 自由基的影响 | 第41-42页 |
| ·室温下质子辐照Kapton 的自由基演化规律 | 第42-45页 |
| ·室温下质子辐照Si0_2/Kapton 的自由基演化规律 | 第45-47页 |
| ·质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能演化与辐照自由基关系分析 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 第4章 质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能永久损伤机理研究 | 第50-62页 |
| ·质子辐照Si0_2/ Kapton 的表面形貌分析 | 第50-51页 |
| ·质子辐照Kapton 及Si0_2/Kapton 的ATR-FTIR 分析 | 第51-54页 |
| ·质子辐照Kapton 的ATR-FTIR 分析 | 第52-53页 |
| ·质子辐照Si0_2/Kapton 的ATR-FTIR 分析 | 第53-54页 |
| ·质子辐照Kapton 及Si0_2/Kapton 的XPS 分析 | 第54-60页 |
| ·质子辐照Kapton 的XPS 分析 | 第54-57页 |
| ·质子辐照Si0_2/Kapton 的XPS 分析 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
