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质子辐照下SiO2薄膜改性Kapton光学性能演化及其损伤机理

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第1章 绪论第9-24页
   ·课题背景第9页
   ·空间粒子辐照环境及其效应第9-14页
     ·空间粒子辐照环境第10-11页
     ·空间粒子辐照环境效应第11-13页
     ·空间粒子辐照试验第13-14页
   ·聚合物的空间粒子辐照损伤及其回复效应第14-17页
     ·聚合物的空间粒子辐照损伤效应第14-16页
     ·聚合物的粒子辐照损伤回复第16-17页
   ·聚合物辐照的顺磁缺陷及其测试方法第17-23页
     ·顺磁缺陷的EPR 测试第17-19页
     ·EPR 测试的原理及应用第19-21页
     ·聚合物辐照的顺磁缺陷及其演化第21-23页
   ·本文主要研究内容第23-24页
第2章 试验材料、设备及试验方法第24-34页
   ·试验材料第24页
   ·Kapton 表面沉积Si0_2 薄膜第24-25页
   ·质子辐照试验第25-29页
     ·空间辐照环境地面模拟设备第25-27页
     ·辐照试验参数选择第27页
     ·质子辐照的SRIM 模拟分析第27-29页
   ·分析测试方法第29-34页
     ·光学性能测试第29-30页
     ·电子顺磁共振分析第30-32页
     ·X 射线光电子能谱分析第32-33页
     ·红外光谱分析第33页
     ·表面形貌分析第33-34页
第3章 质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能演化及辐照缺陷的EPR 分析第34-50页
   ·质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能损伤和演化规律第34-41页
     ·Si0_2 薄膜改性对质子辐照Kapton 光学性能的影响第34-37页
     ·质子辐照Kapton 光学性能回复特征第37-39页
     ·质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能回复特征第39-41页
   ·质子辐照Si0_2/Kapton 的自由基缺陷演化规律第41-47页
     ·Si0_2 薄膜改性对质子辐照Kapton 自由基的影响第41-42页
     ·室温下质子辐照Kapton 的自由基演化规律第42-45页
     ·室温下质子辐照Si0_2/Kapton 的自由基演化规律第45-47页
   ·质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能演化与辐照自由基关系分析第47-48页
   ·本章小结第48-50页
第4章 质子辐照Si0_2/Kapton 光学性能永久损伤机理研究第50-62页
   ·质子辐照Si0_2/ Kapton 的表面形貌分析第50-51页
   ·质子辐照Kapton 及Si0_2/Kapton 的ATR-FTIR 分析第51-54页
     ·质子辐照Kapton 的ATR-FTIR 分析第52-53页
     ·质子辐照Si0_2/Kapton 的ATR-FTIR 分析第53-54页
   ·质子辐照Kapton 及Si0_2/Kapton 的XPS 分析第54-60页
     ·质子辐照Kapton 的XPS 分析第54-57页
     ·质子辐照Si0_2/Kapton 的XPS 分析第57-60页
   ·本章小结第60-62页
结论第62-63页
参考文献第63-68页
致谢第68页

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