摘要 | 第5-8页 |
Abstract | 第8-10页 |
第1章 绪论 | 第14-28页 |
1.1 课题研究的背景及意义 | 第15-17页 |
1.2 露点/霜点温度检测技术概述 | 第17-22页 |
1.3 TDLAS技术露点/霜点温度检测研究现状 | 第22-26页 |
1.4 论文的主要研究内容 | 第26-28页 |
第二章 TDLAS技术露点/霜点温度测量原理 | 第28-51页 |
2.1 分子吸收光谱 | 第28-30页 |
2.1.1 分子光谱简介 | 第28-29页 |
2.1.2 HITRAN光谱数据库简介 | 第29-30页 |
2.2 光谱展宽及线型模型 | 第30-36页 |
2.2.1 多普勒加宽(Gaussian线型) | 第31页 |
2.2.2 碰撞加宽(Lorentz线型) | 第31-33页 |
2.2.3 Voigt线型 | 第33-34页 |
2.2.4 HTP线型 | 第34-36页 |
2.3 TDLAS技术原理 | 第36-46页 |
2.3.1 Lambert-Beer定律 | 第36-38页 |
2.3.2 直接吸收光谱技术 | 第38-40页 |
2.3.3 调制光谱技术 | 第40-46页 |
2.4 TDLAS技术露点/露点温度测量原理 | 第46-50页 |
2.4.1 水汽分压与露点/露点温度 | 第46-49页 |
2.4.2 露点/霜点温度光谱反演方法 | 第49-50页 |
2.5 本章小结 | 第50-51页 |
第三章 基于单谱线的露点/霜点温度测量实验研究 | 第51-79页 |
3.1 低温光谱特性研究 | 第51-58页 |
3.1.1 低温光谱实验平台 | 第51-52页 |
3.1.2 低温水汽光谱参数测量研究 | 第52-58页 |
3.2 光谱处理方法 | 第58-70页 |
3.2.1 露点/霜点温度测量中精确背景扣除方法 | 第58-62页 |
3.2.2 基于L-M算法的多线处理方法 | 第62-64页 |
3.2.3 Voigt线型两翼拟合方法 | 第64-70页 |
3.3 露点/霜点温度测量实验研究 | 第70-78页 |
3.3.1 标准温湿度箱露点/霜点测量实验装置及结果 | 第70-72页 |
3.3.2 低温腔露点/霜点测量实验装置及结果 | 第72-76页 |
3.3.3 低温风洞露点/霜点实验测量及结果 | 第76-78页 |
3.4 本章小结 | 第78-79页 |
第四章 基于多光谱线的极低温环境露点/霜点温度测量方法研究 | 第79-102页 |
4.1 吸收线的选择 | 第79-85页 |
4.1.1 适用于极低温环境高动态范围露点温度检测的吸收线选择 | 第79-81页 |
4.1.2 吸收线参数标定 | 第81-85页 |
4.2 直接吸收光谱技术与波长调制光谱技术相结合的方法 | 第85-91页 |
4.2.1 方法简介 | 第85-86页 |
4.2.2 露点/霜点温度测量范围模拟 | 第86-88页 |
4.2.3 测量露点/霜点温度结果不确定度分析计算 | 第88-91页 |
4.3 露点/霜点温度结果溯源研究 | 第91-97页 |
4.3.1 溯源研究实验方案及系统集成 | 第91-93页 |
4.3.2 实验室高纯氮气露点温度测量 | 第93-97页 |
4.4 上海计量院的测试结果 | 第97-100页 |
4.4.1 原位对比测量结果 | 第98-99页 |
4.4.2 抽气采样对比测量结果 | 第99-100页 |
4.5 本章小结 | 第100-102页 |
第五章 总结与展望 | 第102-105页 |
5.1 全文总结 | 第102-103页 |
5.2 论文创新点 | 第103-104页 |
5.3 未来展望 | 第104-105页 |
参考文献 | 第105-114页 |
致谢 | 第114-116页 |
在学期间所获研究成果 | 第116页 |