引入关联缺陷的回归测试技术研究
| 内容提要 | 第1-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-14页 |
| ·课题背景及意义 | 第7-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-12页 |
| ·对于关联缺陷的研究 | 第9-10页 |
| ·对于回归测试用例集的研究 | 第10-12页 |
| ·论文主要内容 | 第12-14页 |
| 第2章 关联缺陷的理论基础 | 第14-21页 |
| ·关联缺陷的定义 | 第14-16页 |
| ·关联缺陷的分析 | 第16-19页 |
| ·关联缺陷的影响 | 第19-21页 |
| 第3章 回归测试用例集优化技术研究 | 第21-28页 |
| ·两种测试用例集优化策略 | 第21-22页 |
| ·十四种测试用例集优化方法 | 第22-25页 |
| ·APFD 度量 | 第25-28页 |
| 第4章 回归测试用例集最小化技术研究 | 第28-38页 |
| ·测试用例集最小化介绍 | 第28-29页 |
| ·贪心算法介绍 | 第29-30页 |
| ·测试用例集最小化的数学模型 | 第30-31页 |
| ·HGS 算法 | 第31-35页 |
| ·改进的0-1 整数规划方法 | 第35-38页 |
| 第5章 引入关联缺陷的回归测试用例集技术 | 第38-45页 |
| ·引入关联缺陷的回归测试用例集优化技术 | 第38-40页 |
| ·引入关联缺陷的回归测试用例集最小化技术 | 第40-45页 |
| ·针对某一个缺陷的回归测试用例集最小化技术 | 第40-42页 |
| ·改进的HGS 算法 | 第42-45页 |
| 第6章 总结 | 第45-47页 |
| ·全文总结 | 第45-46页 |
| ·展望 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-51页 |
| 致谢 | 第51-52页 |
| 中文摘要 | 第52-55页 |
| Abstract | 第55-58页 |