| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 插图索引 | 第13-15页 |
| 附表索引 | 第15-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-24页 |
| 1.1 引言 | 第16-17页 |
| 1.2 继电保护算法的研究现状 | 第17-20页 |
| 1.2.1 正弦函数模型算法 | 第17-18页 |
| 1.2.2 数字滤波技术 | 第18页 |
| 1.2.3 最小二乘算法 | 第18-19页 |
| 1.2.4 微分方程法 | 第19页 |
| 1.2.5 人工神经网络算法 | 第19页 |
| 1.2.6 小波分析算法 | 第19-20页 |
| 1.2.7 数学形态学算法 | 第20页 |
| 1.3 片上系统技术应用于继电保护装置设计的可行性 | 第20-21页 |
| 1.4 研究内容及章节安排 | 第21-24页 |
| 第二章 数学理论基础 | 第24-37页 |
| 2.1 数学形态学 | 第24-30页 |
| 2.1.1 二值形态变换 | 第24-25页 |
| 2.1.2 灰度形态变换 | 第25-28页 |
| 2.1.3 结构元素的选取 | 第28-30页 |
| 2.2 奇异值分解 | 第30-34页 |
| 2.2.1 奇异值分解的定义 | 第30-31页 |
| 2.2.2 奇异值分解的性质 | 第31-32页 |
| 2.2.3 奇异值分解的应用 | 第32-34页 |
| 2.3 高阶统计分析 | 第34-36页 |
| 2.3.1 高阶统计量的时域定义 | 第34-35页 |
| 2.3.2 高阶累积量的性质 | 第35-36页 |
| 2.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 基于形态奇异熵的故障选相方法 | 第37-51页 |
| 3.1 引言 | 第37页 |
| 3.2 基于形态奇异熵的故障选相方法 | 第37-41页 |
| 3.2.1 形态奇异熵的计算 | 第37-38页 |
| 3.2.2 故障选相原理 | 第38-41页 |
| 3.3 基于形态奇异熵的选相元件的性能评估 | 第41-48页 |
| 3.3.1 故障类型对选相元件性能的影响 | 第42-44页 |
| 3.3.2 故障起始角对选相元件性能的影响 | 第44-45页 |
| 3.3.3 故障位置对选相元件性能的影响 | 第45-46页 |
| 3.3.4 故障电阻对选相元件性能的影响 | 第46-47页 |
| 3.3.5 实测数据对选相元件进行测试 | 第47-48页 |
| 3.4 与电压突变量选相元件的性能对比 | 第48-50页 |
| 3.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 基于电流偏斜度的输电线路差动保护 | 第51-64页 |
| 4.1 引言 | 第51-52页 |
| 4.2 基于电流偏斜度的差动保护新原理 | 第52-53页 |
| 4.3 基于电流偏斜度的差动保护的性能仿真分析 | 第53-61页 |
| 4.3.1 区内故障情况下差动保护的动作特性 | 第56-60页 |
| 4.3.2 区外故障情况下差动保护的动作特性 | 第60-61页 |
| 4.4 与电流相量差动保护方法的对比 | 第61-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 互感器饱和检测和二次侧畸变电流的补偿 | 第64-86页 |
| 5.1 引言 | 第64-65页 |
| 5.2 电流互感器铁芯的饱和特性 | 第65-66页 |
| 5.3 电流互感器铁芯饱和检测新方法 | 第66-70页 |
| 5.3.1 饱和检测的启动单元 | 第66-68页 |
| 5.3.2 饱和起始点及饱和终结点的的定位 | 第68-70页 |
| 5.4 二次侧畸变电流的补偿方法 | 第70-73页 |
| 5.5 算法性能的仿真分析 | 第73-83页 |
| 5.5.1 互感器剩磁为零时的饱和的检测与畸变电流补偿 | 第73-75页 |
| 5.5.2 互感器铁芯带有-80%剩磁时的饱和检测与畸变电流补偿 | 第75-77页 |
| 5.5.3 互感器铁芯带有 80%剩磁时的饱和检测与畸变电流补偿 | 第77-78页 |
| 5.5.4 负极性直流偏移时的饱和检测与畸变电流补偿 | 第78-80页 |
| 5.5.5 AC 饱和的检测与畸变电流补偿 | 第80-81页 |
| 5.5.6 二次负载大小对饱和检测与畸变电流补偿的影响 | 第81-83页 |
| 5.6 饱和检测方法的对比 | 第83-84页 |
| 5.7 本章小结 | 第84-86页 |
| 第六章 片上系统继电保护研发平台的设计及测试 | 第86-113页 |
| 6.1 引言 | 第86页 |
| 6.2 基于 FPGA 的片上系统简介 | 第86-94页 |
| 6.2.1 片上系统技术 | 第86-89页 |
| 6.2.2 基于 FPGA 的片上系统设计流程 | 第89-93页 |
| 6.2.3 软件开发工具 | 第93-94页 |
| 6.3 基于 FPGA 的片上系统继电保护研发平台的设计 | 第94-105页 |
| 6.3.1 继电保护研发平台的设计原则和功能需求 | 第94页 |
| 6.3.2 硬件电路主要器件选型和印刷电路板设计 | 第94-99页 |
| 6.3.3 基于 Quartus II 和 Nios II IDE 的软件平台开发 | 第99-104页 |
| 6.3.4 测试系统 | 第104-105页 |
| 6.4 电流偏斜度差动保护方法的实现及测试 | 第105-112页 |
| 6.4.1 电流偏斜度差动保护方法的实现 | 第105-106页 |
| 6.4.2 测试结果分析 | 第106-112页 |
| 6.5 本章小结 | 第112-113页 |
| 总结与展望 | 第113-115页 |
| 1 结论 | 第113-114页 |
| 2 工作展望 | 第114-115页 |
| 参考文献 | 第115-124页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第124-125页 |
| 致谢 | 第125-126页 |
| 附件 | 第126页 |
