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嵌入式路由器中基于NAND Flash启动技术研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第11-12页
缩略语对照表第12-15页
第一章 绪论第15-21页
    1.1 选题缘由和意义第15-16页
    1.2 国内外现状第16-17页
        1.2.1 国内研究现状第16-17页
        1.2.2 国外研究现状第17页
    1.3 主要研究内容第17-18页
    1.4 论文结构第18-21页
第二章 关键技术概述第21-27页
    2.1 常用内存技术介绍第21页
    2.2 Bootloader作用第21-22页
    2.3 NOR Flash的引导过程第22-23页
    2.4 坏块管理第23-26页
    2.5 本章小结第26-27页
第三章 嵌入式路由器中NANDFlash模块需求分析与设计第27-39页
    3.1 本系统实现平台第27-28页
        3.1.1 硬件平台第27-28页
        3.1.2 软件平台第28页
    3.2 NAND Flash模块需求分析第28-30页
    3.3 NAND Flash模块设计第30-36页
        3.3.1 NAND Flash物理组成第30-31页
        3.3.2 NAND Flash工作时序第31-34页
        3.3.3 NAND Flash模块设计第34-36页
    3.4 对NAND Flash设计模块存在的风险进行分析第36-37页
    3.5 本章小结第37-39页
第四章 采用磨损均衡算法解决延长NAND Flash寿命问题第39-49页
    4.1 NAND闪存寿命减短问题分析第39-40页
        4.1.1 研究磨损均衡算法的必要性第39-40页
    4.2 磨损均衡算法描述第40-44页
        4.2.1 磨损均衡算法分类第40-41页
        4.2.2 磨损均衡算法描述第41页
        4.2.3 阈值控制的磨损均衡算法第41-42页
        4.2.4 内存受限的磨损均衡算法第42-43页
        4.2.5 大容量NAND Flash磨损均衡算法第43-44页
    4.3 垃圾回收第44-45页
    4.4 对本系统采用的均衡算法性能进行分析第45-47页
    4.5 本章小结第47-49页
第五章 基于NAND Flash的系统引导方法和装置第49-67页
    5.1 基于NAND Flash的系统引导方法和装置介绍第49-59页
        5.1.1 现有基于NAND Flash的系统引导方法和装置介绍第49-51页
        5.1.2 基于NAND Flash的系统引导方法特征第51-52页
        5.1.3 基于NAND Flash的系统引导装置特征第52-53页
        5.1.4 实施实例第53-58页
        5.1.5 测试环境和测试结果第58-59页
    5.2 对现有引导方案存在问题进行分析第59-60页
        5.2.1 现有技术方案问题分析第59-60页
        5.2.2 现有方案缺点第60页
        5.2.3 本文所要解决的技术问题第60页
    5.3 本文改进后的完整技术方案第60-65页
        5.3.1 本文设计的方案第60-62页
        5.3.2 本文设计的装置第62-64页
        5.3.3 本文技术方案带来的有益效果第64页
        5.3.4 本方案技术关键点和欲保护点是什么第64-65页
    5.4 本章小结第65-67页
第六章 结束语第67-69页
参考文献第69-71页
致谢第71-73页
作者简介第73页

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