摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
符号对照表 | 第14-16页 |
缩略语对照表 | 第16-21页 |
第一章 绪论 | 第21-29页 |
1.1 开关电源能效要求 | 第21-24页 |
1.2 AC/DC开关电源研究热点 | 第24-26页 |
1.2.1 原边反馈技术 | 第24页 |
1.2.2 高精度采样 | 第24-25页 |
1.2.3 软开关技术 | 第25页 |
1.2.4 同步整流技术 | 第25-26页 |
1.2.5 快速充电技术 | 第26页 |
1.3 本论文的主要工作和结构 | 第26-29页 |
第二章 反激电源系统原理 | 第29-45页 |
2.1 反激电源系统基本原理 | 第29-32页 |
2.1.1 反激变压器 | 第29-31页 |
2.1.2 反激电源系统工作过程 | 第31-32页 |
2.2 反激电源系统的工作模式 | 第32-36页 |
2.2.1 断续工作模式 | 第33-35页 |
2.2.2 连续工作模式 | 第35-36页 |
2.2.3 两种工作模式的对比 | 第36页 |
2.3 AC/DC反激电源系统的反馈方式 | 第36-40页 |
2.3.1 副边反馈方式 | 第37-38页 |
2.3.2 原边反馈方式 | 第38-40页 |
2.4 原边反馈方式电源控制器系统集成方案 | 第40-44页 |
2.4.1 电池充电过程 | 第40-41页 |
2.4.2 基于原边反馈方式的控制器集成方案 | 第41-44页 |
2.5 本章小结 | 第44-45页 |
第三章 自补偿高精度恒流控制研究 | 第45-67页 |
3.1 恒流误差分析 | 第46-49页 |
3.1.1 传输延时误差 | 第46-47页 |
3.1.2 漏感误差 | 第47-49页 |
3.2 传统CC电路 | 第49-52页 |
3.2.1 传统恒流原理 | 第49-50页 |
3.2.2 OCP补偿 | 第50-52页 |
3.3 自补偿高精度恒流控制电路 | 第52-57页 |
3.3.1 所提出的一种消除OCP误差的算法 | 第52页 |
3.3.2 所提出的OCP电路结构 | 第52-53页 |
3.3.3 CS峰值采样保持电路 | 第53-54页 |
3.3.4 动态过流保护电路 | 第54-55页 |
3.3.5 所提出电路的自适应补偿过程 | 第55-57页 |
3.4 自补偿高精度恒流控制电路环路稳定性分析 | 第57-60页 |
3.5 测试结果 | 第60-65页 |
3.6 本章小结 | 第65-67页 |
第四章 动态谷底选择模式高精度快速动态响应恒压控制研究 | 第67-103页 |
4.1 断续模式反激变换器能量损耗分析 | 第67-75页 |
4.1.1 传统QR模式工作状态分析 | 第67-70页 |
4.1.2 系统损耗分类 | 第70-71页 |
4.1.3 稳态损耗分析 | 第71-73页 |
4.1.4 开关损耗分析 | 第73-74页 |
4.1.5 其它损耗分析 | 第74-75页 |
4.2 高效率低待机控制研究 | 第75-80页 |
4.2.1 CS峰值电流与频率设定 | 第75-78页 |
4.2.2 开关损耗与动态谷底选择 | 第78-79页 |
4.2.3 输出二极管损耗与同步整流 | 第79-80页 |
4.3 高效率恒压模式动态谷底选择电路 | 第80-85页 |
4.3.1 频率与CS峰值设定 | 第80-82页 |
4.3.2 谷底检测 | 第82-83页 |
4.3.3 动态谷底选择 | 第83-85页 |
4.4 低功耗启动电路 | 第85-86页 |
4.5 高精度采样研究 | 第86-90页 |
4.5.1 退磁时间检测电路 | 第88-89页 |
4.5.2 采样时间调节电路 | 第89-90页 |
4.6 快速动态响应研究 | 第90-93页 |
4.6.1 负载切换检测电路 | 第90-93页 |
4.6.2 采样控制电路 | 第93页 |
4.7 测试与验证 | 第93-102页 |
4.7.1 瞬态 | 第94-96页 |
4.7.2 功耗和效率 | 第96-98页 |
4.7.3 系统动态特性 | 第98-99页 |
4.7.4 恒压精度 | 第99-100页 |
4.7.5 输出电压纹波 | 第100-102页 |
4.8 本章小结 | 第102-103页 |
第五章 同步整流技术研究 | 第103-121页 |
5.1 同步整流工作原理 | 第103-107页 |
5.1.1 同步整流管工作方式 | 第103-104页 |
5.1.2 同步整流控制方式 | 第104-106页 |
5.1.3 断续模式同步整流工作过程 | 第106-107页 |
5.2 同步整流集成方案研究 | 第107-116页 |
5.2.1 同步整流控制芯片结构 | 第108-112页 |
5.2.2 开启与关断检测电路 | 第112-113页 |
5.2.3 误开启与误关断屏蔽电路 | 第113-116页 |
5.3 测试与验证 | 第116-119页 |
5.3.1 瞬态 | 第117-119页 |
5.3.2 效率 | 第119页 |
5.4 本章小结 | 第119-121页 |
第六章 总结与展望 | 第121-123页 |
参考文献 | 第123-135页 |
致谢 | 第135-137页 |
作者简介 | 第137-139页 |