摘要 | 第1-3页 |
Abstract | 第3-12页 |
第一章 引言 | 第12-19页 |
·研究背景 | 第12-13页 |
·模数转换器发展现状 | 第13-17页 |
·主要工作与论文组织结构 | 第17-18页 |
本章参考文献 | 第18-19页 |
第二章 模数转换器概述 | 第19-30页 |
·模数转换器基本原理 | 第19-20页 |
·模数转换器性能参数定义 | 第20-24页 |
·动态参数 | 第20-22页 |
·静态参数 | 第22-24页 |
·模数转换器类别 | 第24页 |
·流水线模数转换器的发展 | 第24-29页 |
·全并行模数转换器 | 第24-25页 |
·两步式模数转换器 | 第25-26页 |
·流水线模数转换器 | 第26-29页 |
本章参考文献 | 第29-30页 |
第三章 系统设计研究 | 第30-58页 |
·传统流水线模数转换器原理与结构 | 第30-31页 |
·数字校正算法(DIGITAL ERROR CORRECTION) | 第31-33页 |
·流水线级的分辨率和级数优化 | 第33-36页 |
·运算放大器的非理想特性 | 第36-42页 |
·输入失调 | 第36-38页 |
·增益有限性 | 第38页 |
·非恒定增益 | 第38-40页 |
·有限建立时间和有限带宽 | 第40-41页 |
·噪声 | 第41-42页 |
·系统中其他非理想特性 | 第42-47页 |
·采样/保持开关的非理想特性 | 第42-43页 |
·开关噪声 | 第43-45页 |
·电容失配 | 第45-46页 |
·时钟抖动 | 第46-47页 |
·系统结构选取 | 第47-52页 |
·开关电容式采样/保持结构 | 第48-50页 |
·流水线级分辨率选择 | 第50-52页 |
·系统设计指标 | 第52-56页 |
·采样电容及其缩减因子的确定 | 第53-54页 |
·信号输入幅度 | 第54-55页 |
·运放的压摆率和带宽 | 第55-56页 |
本章参考文献 | 第56-58页 |
第四章 模拟电路设计研究 | 第58-80页 |
·采样/保持电路 | 第58-68页 |
·采样开关 | 第58-61页 |
·运算放大器 | 第61-68页 |
·采样保持电路的总体仿真 | 第68页 |
·余量增益电路(MDAC) | 第68-72页 |
·运算放大器 | 第69-70页 |
·子模数转换器设计 | 第70-72页 |
·参考电压源缓冲电路设计 | 第72-76页 |
·时钟驱动电路 | 第76-78页 |
·系统仿真结果 | 第78-79页 |
本章参考文献 | 第79-80页 |
第五章 数字后台校准技术 | 第80-98页 |
·概述 | 第80-84页 |
·电容误差平均化技术 | 第80-81页 |
·模拟校准技术 | 第81-82页 |
·数字校准技术 | 第82页 |
·后台校准技术 | 第82-83页 |
·自校准技术 | 第83页 |
·总结 | 第83-84页 |
·本文的数字校准算法 | 第84-92页 |
·校准原理 | 第85-90页 |
·伪随机序列产生器 | 第90页 |
·校准技术的系统级描述 | 第90-92页 |
·算法的FPGA实现及验证 | 第92-95页 |
·算法的数字后端版图实现 | 第95-96页 |
·总结 | 第96页 |
本章参考文献 | 第96-98页 |
第六章 芯片实现与测试 | 第98-112页 |
·各种版图寄生分析 | 第98-101页 |
·差分对称性 | 第98-99页 |
·电阻电容寄生效应 | 第99-100页 |
·隔离与屏蔽 | 第100-101页 |
·总体版图设计 | 第101-102页 |
·封装 | 第102-104页 |
·印刷电路测试板设计 | 第104-105页 |
·芯片测试 | 第105-110页 |
·测试方案 | 第105-106页 |
·ADC动态性能测试结果 | 第106-108页 |
·ADC静态性能测试结果 | 第108-109页 |
·ADC性能汇总和对比 | 第109-110页 |
·测试结果分析 | 第110-111页 |
本章参考文献 | 第111-112页 |
第七章 总结与展望 | 第112-114页 |
·总结 | 第112页 |
·展望 | 第112-114页 |
致谢 | 第114-115页 |
攻读研究生期间发表的学术论文目录 | 第115-116页 |