| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 引言 | 第11页 |
| 1.2 光子晶体的研究 | 第11-12页 |
| 1.3 声子晶体的性质 | 第12-14页 |
| 1.4 声子晶体的能带 | 第14-15页 |
| 1.5 声子晶体的应用 | 第15页 |
| 1.6 研究内容 | 第15-18页 |
| 第2章 计算方法 | 第18-23页 |
| 2.1 时域有限差分法 | 第18-19页 |
| 2.2 多重散射法 | 第19页 |
| 2.3 传输矩阵法 | 第19页 |
| 2.4 壳层法 | 第19-20页 |
| 2.5 平面波展开法 | 第20-23页 |
| 第3章 点缺陷对正方柱 Fe—环氧树脂的二维声子晶体带隙的影响 | 第23-30页 |
| 3.1 模型描述 | 第23-24页 |
| 3.2 计算结果 | 第24-27页 |
| 3.3 不同填充率对最低带隙相对宽度的影响 | 第27-28页 |
| 3.4 带隙数目随填充率的变化 | 第28-29页 |
| 3.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第4章 点缺陷对 Cu 正方柱—环氧树脂 二维声子晶体带隙的影响 | 第30-37页 |
| 4.1 模型描述 | 第30-31页 |
| 4.2 计算结果 | 第31-33页 |
| 4.3 不同填充率对最低带隙相对宽度的影响 | 第33-35页 |
| 4.4 带隙数目随填充率的变化 | 第35-36页 |
| 4.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第5章 点缺陷对圆柱 Fe—环氧树脂的 | 第37-45页 |
| 5.1 模型描述 | 第37-39页 |
| 5.2 计算结果 | 第39-41页 |
| 5.3 不同填充率对最低带隙相对宽度的影响 | 第41-42页 |
| 5.4 带隙数目随填充率的变化 | 第42-43页 |
| 5.5 本章小结 | 第43-45页 |
| 第6章 结论及展望 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-51页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及参与基金项目 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52页 |