65nm内嵌FPGA振荡器的设计与实现方法的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 引言 | 第7-14页 |
| 1.1 振荡器发展的历史回顾 | 第7-8页 |
| 1.2 振荡器国内外研究现状 | 第8页 |
| 1.3 FPGA概述 | 第8-9页 |
| 1.4 内嵌FPGA的振荡器 | 第9-10页 |
| 1.5 研究内容和创新点 | 第10-12页 |
| 1.6 本文的组织结构 | 第12-14页 |
| 第二章 振荡器的基本原理 | 第14-24页 |
| 2.1 振荡器概述 | 第14页 |
| 2.2 振荡器反馈理论 | 第14-17页 |
| 2.2.1 巴克豪森准则 | 第14-16页 |
| 2.2.2 平衡条件 | 第16页 |
| 2.2.3 稳定条件 | 第16-17页 |
| 2.3 振荡器负阻理论 | 第17-21页 |
| 2.3.1 起振条件 | 第18页 |
| 2.3.2 平衡条件 | 第18-19页 |
| 2.3.3 稳定条件 | 第19-21页 |
| 2.4 常见的振荡器 | 第21-23页 |
| 2.4.1 环形振荡器 | 第21-22页 |
| 2.4.2 LC振荡器 | 第22-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 内嵌FPGA振荡器的电路设计 | 第24-44页 |
| 3.1 振荡器设计指标和整体结构 | 第24-26页 |
| 3.1.1 设计指标 | 第24-25页 |
| 3.1.2 整体结构 | 第25-26页 |
| 3.2 各模块电路设计 | 第26-43页 |
| 3.2.1 压控振荡器电路 | 第26-30页 |
| 3.2.2 温度补偿电路和复制偏置电路 | 第30-35页 |
| 3.2.3 温度补偿电压产生电路 | 第35-38页 |
| 3.2.4 工艺补偿电路 | 第38-40页 |
| 3.2.5 占空比校正器电路 | 第40页 |
| 3.2.6 分频器电路 | 第40-43页 |
| 3.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 内嵌FPGA振荡器的版图设计 | 第44-52页 |
| 4.1 65NM工艺新效应的研究 | 第44-47页 |
| 4.1.1 浅沟槽隔离(STI)应力效应 | 第44-45页 |
| 4.1.2 阱临近效应(WPE) | 第45-47页 |
| 4.2 65NM工艺振荡器版图设计 | 第47-51页 |
| 4.3 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 内嵌FPGA振荡器的实验结果与验证 | 第52-69页 |
| 5.1 振荡器仿真目标 | 第52页 |
| 5.2 振荡器前仿瞬态仿真结果 | 第52-61页 |
| 5.2.1 振荡器功能仿真以及工艺补偿仿真 | 第52-56页 |
| 5.2.2 振荡器噪声仿真 | 第56-57页 |
| 5.2.3 振荡器温度补偿仿真 | 第57-58页 |
| 5.2.4 振荡器电源电压仿真 | 第58-60页 |
| 5.2.5 振荡器VCO控制电压仿真 | 第60页 |
| 5.2.6 振荡器其他参数仿真 | 第60-61页 |
| 5.3 振荡器前仿交流仿真结果 | 第61-64页 |
| 5.4 振荡器后仿瞬态仿真结果 | 第64-67页 |
| 5.5 仿真结论 | 第67-68页 |
| 5.6 本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 6.1 总结 | 第69-70页 |
| 6.2 展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
