| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| 1.1 课题背景与研究意义 | 第12-14页 |
| 1.1.1 课题背景 | 第12-13页 |
| 1.1.2 课题意义 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外发展动态概要 | 第14-15页 |
| 1.3 本文的工作 | 第15-16页 |
| 1.4 课题的内容组织结构 | 第16-17页 |
| 第二章 边界扫描测试技术原理 | 第17-26页 |
| 2.1 边界扫描测试技术介绍 | 第17页 |
| 2.2 边界扫描测试技术的基本原理 | 第17-19页 |
| 2.3 边界扫描技术的基本结构 | 第19-24页 |
| 2.3.1 TAP 控制器 | 第20-22页 |
| 2.3.2 边界扫描测试寄存器 | 第22-23页 |
| 2.3.3 边界扫描单元 | 第23-24页 |
| 2.4 BSDL 简介 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 系统总体方案设计 | 第26-37页 |
| 3.1 数字电路板测试与故障诊断系统概述 | 第26-30页 |
| 3.1.1 电路板测试的目的 | 第26-27页 |
| 3.1.2 电路板测试的原理 | 第27-28页 |
| 3.1.3 电路板测试的方法 | 第28页 |
| 3.1.4 数字电路测试与故障诊断系统的设计开发过程 | 第28-30页 |
| 3.2 数字电路测试与故障诊断系统设计目标 | 第30-31页 |
| 3.3 系统总体方案设计 | 第31-36页 |
| 3.3.1 故障诊断测试系统硬件总体设计 | 第33页 |
| 3.3.2 故障诊断测试系统流程图示 | 第33-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 测试系统硬件电路模块设计仿真及调试 | 第37-71页 |
| 4.1 主控制器模块硬件电路设计 | 第37-45页 |
| 4.1.1 主控制器的功能 | 第37-38页 |
| 4.1.2 主控芯片的选择 | 第38-39页 |
| 4.1.3 主控制器模块的硬件电路设计 | 第39-45页 |
| 4.2 主控制器模块的设计与仿真调试 | 第45-58页 |
| 4.2.1 主控制工作流程 | 第46-48页 |
| 4.2.2 主控制模块设计 | 第48-49页 |
| 4.2.3 时钟模块的仿真调试 | 第49-51页 |
| 4.2.4 USB 读写控制模块设计仿真调试 | 第51-53页 |
| 4.2.5 TMS 信号模块设计仿真调试 | 第53-54页 |
| 4.2.6 TDI 模块设计仿真调试 | 第54-55页 |
| 4.2.7 TDO 模块设计仿真调试 | 第55-57页 |
| 4.2.8 FIFO 存储模块设计仿真调试 | 第57-58页 |
| 4.3 USB 接口模块硬件电路设计 | 第58-66页 |
| 4.3.1 USB 接口芯片选型 | 第58-59页 |
| 4.3.2 USB 接口电路设计 | 第59-62页 |
| 4.3.3 固件设计及调试 | 第62-66页 |
| 4.4 主控模块与 USB 模块的设计及调试 | 第66-70页 |
| 4.4.1 系统硬件电路 PCB 制作 | 第67-68页 |
| 4.4.2 系统整体连接调试 | 第68-70页 |
| 4.5 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 测试系统应用实例 | 第71-80页 |
| 5.1 测试控制器与被测电路 | 第71-72页 |
| 5.2 测试系统整体连接 | 第72-73页 |
| 5.3 测试调试过程 | 第73-79页 |
| 5.3.1 芯片 ID 码测试 | 第74-75页 |
| 5.3.2 芯片管脚状态获取 | 第75-76页 |
| 5.3.3 芯片管脚状态设置 | 第76-79页 |
| 5.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 总结 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-85页 |