| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·光缓存原理 | 第11-14页 |
| ·光子晶体慢光研究进展 | 第14-15页 |
| ·论文结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 光子晶体波导慢光技术 | 第17-33页 |
| ·光子晶体简介 | 第17-21页 |
| ·光子晶体慢光原理 | 第21-22页 |
| ·光子晶体慢光的动态调制 | 第22-24页 |
| ·光子晶体理论分析方法 | 第24-32页 |
| ·平面波展开法 | 第24-30页 |
| ·紧束缚法 | 第30-32页 |
| ·时域有限差分法 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 光子晶体线缺陷平板波导缓存性能分析及动态调制研究 | 第33-43页 |
| ·线缺陷平板波导的色散管理 | 第33-36页 |
| ·低色散线缺陷平板波导慢光缓存性能分析 | 第36-38页 |
| ·低色散线缺陷平板波导慢光缓存性能的动态调制 | 第38-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 色散对光子晶体线缺陷波导缓存性能的限制分析 | 第43-53页 |
| ·色散管理对缓存性能的影响 | 第43-45页 |
| ·椭圆截面空气孔线缺陷波导的色散管理 | 第45-49页 |
| ·椭圆长短半轴对慢光色散性能的影响 | 第46-48页 |
| ·波导第一行孔对慢光色散性能的影响 | 第48-49页 |
| ·低色散椭圆截面空气孔线缺陷波导缓存性能分析 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 光子晶体耦合腔波导缓存性能分析及动态调制研究 | 第53-65页 |
| ·聚合物耦合腔波导慢光缓存性能分析 | 第53-60页 |
| ·紧束缚法对聚合物耦合腔波导缓存性能的分析 | 第54-55页 |
| ·腔间距对慢光缓存性能的影响 | 第55-56页 |
| ·微腔四周介质柱半径对慢光缓存性能的影响 | 第56-60页 |
| ·聚合物耦合腔波导慢光缓存性能的动态调制 | 第60-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第六章 全文总结 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文 | 第74页 |
