摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
·引言 | 第9-10页 |
·网络生存性 | 第10-13页 |
·网络生存性概述 | 第10-11页 |
·网络生存性表征指标 | 第11-12页 |
·网络生存性技术分类 | 第12-13页 |
·光保护 | 第13-14页 |
·光恢复 | 第14页 |
·论文安排 | 第14-17页 |
第二章 无数据丢失的全光线路切换技术的相关理论研究 | 第17-21页 |
·测试光线路数据丢失的方法 | 第17-18页 |
·无数据丢失的全光线路切换的设计思想 | 第18-19页 |
·小结 | 第19-21页 |
第三章 无数据丢失的全光线路切换技术方案设计与实现 | 第21-47页 |
·光开关技术 | 第21-25页 |
·光开关的性能参数 | 第22页 |
·光开关的功能 | 第22-23页 |
·光开关的分类 | 第23-25页 |
·PLD及CMOS技术 | 第25-32页 |
·PLD的发展 | 第26页 |
·FPGA/CPLD的基本结构及优势 | 第26-27页 |
·CMOS逻辑门电路 | 第27-28页 |
·CMOS逻辑门电路的参数特点 | 第28-30页 |
·所用芯片介绍 | 第30-32页 |
·利用单个电光晶体光开关实现切换 | 第32-38页 |
·解码模块 | 第32-33页 |
·信号同步模块 | 第33-34页 |
·脉冲生成模块 | 第34-35页 |
·驱动电路的性能测试 | 第35-38页 |
·利用残留功率曲线互补对称光开关对联动切换 | 第38-46页 |
·串口控制模块 | 第39-40页 |
·CPLD控制模块 | 第40-41页 |
·光开关驱动模块 | 第41-43页 |
·驱动电路的性能测试 | 第43-44页 |
·电路设计注意事项 | 第44-46页 |
·小结 | 第46-47页 |
第四章 无数据丢失的全光线路切换技术方案性能验证 | 第47-55页 |
·利用单个电光晶体光开关实现切换的测试原理 | 第47-48页 |
·利用单个电光晶体光开关实现切换的测试结果 | 第48-49页 |
·利用残留功率曲线互补对称光开关对联动切换的原理 | 第49-50页 |
·相位调整模块的同步测试 | 第50-51页 |
·切换过程中数据质量测试 | 第51-54页 |
·小结 | 第54-55页 |
第五章 总结 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
致谢 | 第59-61页 |
攻读硕士学位期间发表论文 | 第61页 |