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基于Bootstrap法及性能退化的永磁机构可靠性分析

摘要第2-3页
Abstract第3-4页
1 绪论第7-14页
    1.1 课题背景及意义第7-8页
    1.2 可靠性理论第8-11页
    1.3 性能退化基础理论第11-12页
    1.4 国内外研究现状第12-13页
    1.5 论文主要研究内容第13-14页
2 永磁机构可靠性实验第14-23页
    2.1 永磁机构的结构和工作原理第14-16页
    2.2 双稳态永磁机构寿命实验第16-20页
    2.3 永磁机构温度实验第20-22页
    2.4 本章小结第22-23页
3 永磁机构寿命数据的可靠性分析第23-38页
    3.1 永磁机构常见故障模式及失效机理分析第23-25页
    3.2 威布尔分布第25-31页
        3.2.1 威布尔分布模型第25-27页
        3.2.2 威布尔分布的F检验第27-28页
        3.2.3 威布尔分布的参数估计第28-31页
    3.3 基于威布尔分布的永磁机构寿命可靠度分析第31-37页
        3.3.1 双稳态永磁机构故障统计及假设检验第31-32页
        3.3.2 双稳态永磁机构寿命模型第32-37页
    3.4 本章小结第37-38页
4 基于Bootstrap法的永磁机构可靠性分析第38-47页
    4.1 Bootstrap法在小样本分析中的应用第38-39页
    4.2 Bootstrap法在永磁机构可靠性分析中的应用第39-46页
        4.2.1 原始样本的可靠度计算第39-40页
        4.2.2 Bootstrap法计算永磁机构可靠度第40-46页
    4.3 本章小结第46-47页
5 基于性能退化的永磁机构可靠性分析第47-56页
    5.1 常见的性能退化数据分析方法第47-49页
    5.2 永磁机构性能退化模型相关参数选择第49-50页
    5.3 永磁机构的性能退化数据分析第50-55页
    5.4 本章小结第55-56页
结论第56-58页
参考文献第58-61页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况第61-62页
致谢第62-64页

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