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能量色散型X射线荧光光谱仪关键技术研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
符号注释表第11-12页
第一章 绪论第12-28页
    1.1 能量色散X射线荧光光谱研究背景及意义第12-13页
    1.2 能量色散X射线荧光光谱仪基本原理第13-14页
    1.3 能量色散X射线荧光光谱分析研究现状第14-23页
    1.4 本文要解决的问题及研究内容第23-27页
    1.5 论文结构第27-28页
第二章 X射线荧光光谱最优阈值去噪第28-56页
    2.1 X射线荧光光谱误差特性第28-29页
    2.2 信号模型及去噪评价指标第29-30页
    2.3 常用光谱去噪方法分析第30-32页
    2.4 小波变换去噪理论研究第32-37页
    2.5 E-采样离散小波变换去噪第37-43页
    2.6 交叉验证获取去噪最优阈值第43-55页
    2.7 本章小结第55-56页
第三章 基于双树复数小波变换的X射线荧光光谱本底扣除法第56-76页
    3.1 本底的来源及特性第56-57页
    3.2 本底扣除常用方法第57-62页
    3.3 双树复数小波理论第62-69页
    3.4 双树复数小波扣除光谱本底第69-75页
    3.5 本章小结第75-76页
第四章 基于迭代小波变换的X射线荧光光谱本底扣除法第76-86页
    4.1 小波能量与小波熵的定义第76-79页
    4.2 迭代小波变换扣除荧光光谱本底原理第79-82页
    4.3 迭代小波扣除荧光光谱本底第82-85页
    4.4 本章小结第85-86页
第五章 X射线荧光光谱特征峰检测第86-119页
    5.1 特征峰的数学模型第86-88页
    5.2 常用峰检测方法第88-91页
    5.3 小波变换计算导数原理第91-94页
    5.4 小波计算导数检测特征峰第94-116页
    5.5 实测光谱谱峰检测第116-117页
    5.6 本章小结第117-119页
第六章 X射线荧光光谱重叠峰面积计算第119-127页
    6.1 利用导数锐化特征峰第119-121页
    6.2 利用小波计算导数锐化特征峰第121-123页
    6.3 小波计算导数锐化实测光谱第123-124页
    6.4 非线性拟合重叠峰第124-126页
    6.5 本章小结第126-127页
第七章 实验系统与测试第127-150页
    7.1 概述第127页
    7.2 系统整体设计方案第127-128页
    7.3 下位机系统第128-132页
    7.4 上位机系统第132-146页
    7.5 系统性能测试第146-149页
    7.6 本章小结第149-150页
第八章 总结与展望第150-153页
    8.1 本文工作总结第150-151页
    8.2 未来工作展望第151-153页
致谢第153-154页
参考文献第154-160页
作者攻读博士学位期间发表的学术论文及成果第160页
    第一作者发表论文第160页
    发明专利第160页

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