摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
符号注释表 | 第11-12页 |
第一章 绪论 | 第12-28页 |
1.1 能量色散X射线荧光光谱研究背景及意义 | 第12-13页 |
1.2 能量色散X射线荧光光谱仪基本原理 | 第13-14页 |
1.3 能量色散X射线荧光光谱分析研究现状 | 第14-23页 |
1.4 本文要解决的问题及研究内容 | 第23-27页 |
1.5 论文结构 | 第27-28页 |
第二章 X射线荧光光谱最优阈值去噪 | 第28-56页 |
2.1 X射线荧光光谱误差特性 | 第28-29页 |
2.2 信号模型及去噪评价指标 | 第29-30页 |
2.3 常用光谱去噪方法分析 | 第30-32页 |
2.4 小波变换去噪理论研究 | 第32-37页 |
2.5 E-采样离散小波变换去噪 | 第37-43页 |
2.6 交叉验证获取去噪最优阈值 | 第43-55页 |
2.7 本章小结 | 第55-56页 |
第三章 基于双树复数小波变换的X射线荧光光谱本底扣除法 | 第56-76页 |
3.1 本底的来源及特性 | 第56-57页 |
3.2 本底扣除常用方法 | 第57-62页 |
3.3 双树复数小波理论 | 第62-69页 |
3.4 双树复数小波扣除光谱本底 | 第69-75页 |
3.5 本章小结 | 第75-76页 |
第四章 基于迭代小波变换的X射线荧光光谱本底扣除法 | 第76-86页 |
4.1 小波能量与小波熵的定义 | 第76-79页 |
4.2 迭代小波变换扣除荧光光谱本底原理 | 第79-82页 |
4.3 迭代小波扣除荧光光谱本底 | 第82-85页 |
4.4 本章小结 | 第85-86页 |
第五章 X射线荧光光谱特征峰检测 | 第86-119页 |
5.1 特征峰的数学模型 | 第86-88页 |
5.2 常用峰检测方法 | 第88-91页 |
5.3 小波变换计算导数原理 | 第91-94页 |
5.4 小波计算导数检测特征峰 | 第94-116页 |
5.5 实测光谱谱峰检测 | 第116-117页 |
5.6 本章小结 | 第117-119页 |
第六章 X射线荧光光谱重叠峰面积计算 | 第119-127页 |
6.1 利用导数锐化特征峰 | 第119-121页 |
6.2 利用小波计算导数锐化特征峰 | 第121-123页 |
6.3 小波计算导数锐化实测光谱 | 第123-124页 |
6.4 非线性拟合重叠峰 | 第124-126页 |
6.5 本章小结 | 第126-127页 |
第七章 实验系统与测试 | 第127-150页 |
7.1 概述 | 第127页 |
7.2 系统整体设计方案 | 第127-128页 |
7.3 下位机系统 | 第128-132页 |
7.4 上位机系统 | 第132-146页 |
7.5 系统性能测试 | 第146-149页 |
7.6 本章小结 | 第149-150页 |
第八章 总结与展望 | 第150-153页 |
8.1 本文工作总结 | 第150-151页 |
8.2 未来工作展望 | 第151-153页 |
致谢 | 第153-154页 |
参考文献 | 第154-160页 |
作者攻读博士学位期间发表的学术论文及成果 | 第160页 |
第一作者发表论文 | 第160页 |
发明专利 | 第160页 |