| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景 | 第9-10页 |
| 1.2 研究的目的和意义 | 第10页 |
| 1.3 国内外的研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第11页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第11-12页 |
| 1.4 研究思路及框架 | 第12-15页 |
| 第2章 相关理论概述 | 第15-22页 |
| 2.1 项目风险管理理论概述 | 第15-16页 |
| 2.1.1 风险管理的基本理论 | 第15页 |
| 2.1.2 项目风险管理理论综述 | 第15-16页 |
| 2.2 项目风险分析相关理论概述 | 第16-22页 |
| 2.2.1 项目风险分析的相关理论 | 第16-17页 |
| 2.2.2 失效模式与影响分析(FMEA)方法概述 | 第17-19页 |
| 2.2.3 人因可靠性分析(HRA)方法概述 | 第19-22页 |
| 第3章 背景介绍及问题分析 | 第22-31页 |
| 3.1 半导体设备制造行业概述 | 第22-26页 |
| 3.1.1 半导体及半导体产业概述 | 第22-24页 |
| 3.1.2 半导体设备制造行业概述 | 第24-26页 |
| 3.2 U公司背景介绍 | 第26-27页 |
| 3.3 U公司产品特点介绍 | 第27-28页 |
| 3.4 U公司现行风险管理方法概述 | 第28-29页 |
| 3.4.1 U公司新产品导入过程概述 | 第28页 |
| 3.4.2 U公司新产品导入风险管理过程概述 | 第28-29页 |
| 3.5 U公司现行风险管理方法问题分析 | 第29-31页 |
| 第4章 BGT项目风险识别和定性分析 | 第31-42页 |
| 4.1 BGT项目简介 | 第31-32页 |
| 4.2 BGT项目风险识别 | 第32-36页 |
| 4.3 BGT项目风险清单 | 第36-38页 |
| 4.4 BGT项目风险分析方法选择 | 第38-39页 |
| 4.5 基于FMEA技术的BGT项目风险定性分析 | 第39-42页 |
| 第5章 基于HRA的BGT项目风险定量分析 | 第42-52页 |
| 5.1 BGT项目HRA技术的选择 | 第42页 |
| 5.2 基于CREAM的BGT项目根因追溯模型 | 第42-45页 |
| 5.2.1 根因追溯模型的人因错误模式 | 第42-43页 |
| 5.2.2 人因错误模式的基本前因追溯 | 第43-44页 |
| 5.2.3 BGT项目人因错误根因追溯分析 | 第44-45页 |
| 5.3 基于PCA方法的BGT人因错误风险定量分析 | 第45-52页 |
| 5.3.1 主成分分析法概述 | 第45-47页 |
| 5.3.2 BGT项目PSF因子的确定 | 第47-51页 |
| 5.3.3 计算结果分析 | 第51-52页 |
| 第6章 BGT项目风险应对及效果 | 第52-55页 |
| 6.1 BGT项目风险应对 | 第52-54页 |
| 6.1.1 人因错误导致的的项目风险应对 | 第52页 |
| 6.1.2 非人因错误导致的项目风险应对 | 第52-54页 |
| 6.2 BGT项目风险管理的效果 | 第54-55页 |
| 第7章 结论与展望 | 第55-57页 |
| 7.1 结论 | 第55页 |
| 7.2 本文研究的不足 | 第55页 |
| 7.3 展望 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 附录 | 第61-64页 |
| 卷内备考表 | 第64页 |