脉宽调制电源控制器芯片（PWM）电性能测试技术的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第6-12页 |
| 1.1 脉宽调制芯片PWM的出现 | 第6-7页 |
| 1.2 PWM芯片的基本功能和结构 | 第7-9页 |
| 1.2.1 PWM芯片的功能 | 第7页 |
| 1.2.2 PWM芯片的结构 | 第7-9页 |
| 1.3 电子元器件电性能测试的必要性和复杂性 | 第9页 |
| 1.3.1 电性能测试的必要性 | 第9页 |
| 1.3.2 电性能测试的复杂性 | 第9页 |
| 1.4 PWM芯片测试的难点 | 第9-10页 |
| 1.5 论文的主要工作和结构介绍 | 第10-12页 |
| 第二章 测试系统的选择 | 第12-28页 |
| 2.1 智能化测试系统 | 第12-14页 |
| 2.1.1 单片机测试系统 | 第12页 |
| 2.1.2 专用微机测试系统 | 第12-13页 |
| 2.1.3 简单通用微机测试系统 | 第13页 |
| 2.1.4 复杂通用微机测试系统 | 第13-14页 |
| 2.2 测试系统的评价和选择 | 第14-17页 |
| 2.2.1 测试系统的硬件 | 第14-15页 |
| 2.2.2 测试系统软件 | 第15-16页 |
| 2.2.3 测试系统的技术支持服务 | 第16页 |
| 2.2.4 测试系统成本 | 第16-17页 |
| 2.3 AST2000测试系统介绍 | 第17-28页 |
| 2.3.1 AST2000测试系统结构 | 第18-20页 |
| 2.3.2 AST2000主要内部板卡资源 | 第20-28页 |
| 第三章 PWM电参数测试方法 | 第28-55页 |
| 3.1 PWM工作原理和测试项目 | 第28-31页 |
| 3.1.1 AC-DC型PWM | 第28页 |
| 3.1.2 DC-DC型PWM | 第28-29页 |
| 3.1.3 电压模式PWM | 第29-30页 |
| 3.1.4 电流模式PWM | 第30页 |
| 3.1.5 PWM主要部分介绍 | 第30-31页 |
| 3.2 UC3842测试硬件搭建 | 第31-35页 |
| 3.2.1 UC3842器件概述 | 第31-32页 |
| 3.2.2 AST2000资源配置 | 第32-33页 |
| 3.2.3 DUT板设计 | 第33-35页 |
| 3.2.4 回路搭建注意事项 | 第35页 |
| 3.3 参数测试说明 | 第35-55页 |
| 第四章 测试生产的导入 | 第55-69页 |
| 4.1 测试程序的编写 | 第55-60页 |
| 4.1.1 测试程序说明 | 第55页 |
| 4.1.2 AST2000软件程序 | 第55-56页 |
| 4.1.3 程序编写 | 第56-60页 |
| 4.2 与测试分选机的连接 | 第60-63页 |
| 4.2.1 分选机介绍 | 第60-62页 |
| 4.2.2 测试机与分选机的通讯连接 | 第62-63页 |
| 4.3 测试结果的验证 | 第63-69页 |
| 第五章 总结 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 附录1 DUT板设计图 | 第72-73页 |
| 附录2 DUT板元件清单 | 第73-75页 |
