| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 背景 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究概况 | 第9-10页 |
| 1.3 研究意义 | 第10页 |
| 1.4 本文的主要工作内容 | 第10-12页 |
| 第二章 微波光子链路 | 第12-31页 |
| 2.1 微波光子技术 | 第12-13页 |
| 2.2 微波光子链路的应用 | 第13-15页 |
| 2.2.1 有线电视 | 第14页 |
| 2.2.2 光载无线 | 第14页 |
| 2.2.3 天线远置 | 第14-15页 |
| 2.2.4 射电天文 | 第15页 |
| 2.2.5 其他应用 | 第15页 |
| 2.3 外调制微波光子链路的基本结构 | 第15-20页 |
| 2.3.1 激光器 | 第16-17页 |
| 2.3.2 马赫-曾德尔调制器 | 第17-18页 |
| 2.3.3 光电探测器 | 第18-19页 |
| 2.3.4 光纤 | 第19-20页 |
| 2.4 激光器的恒流驱动和恒温控制电路设计 | 第20-27页 |
| 2.4.1 激光器的恒流驱动电路设计 | 第21-24页 |
| 2.4.2 激光器的恒温控制电路设计 | 第24-25页 |
| 2.4.3 激光器恒流驱动和恒温控制模块的版图设计 | 第25-26页 |
| 2.4.4 激光器的稳定性测试 | 第26-27页 |
| 2.5 外调制微波光子链路的工作原理 | 第27-30页 |
| 2.6 本章总结 | 第30-31页 |
| 第三章 相位噪声的互谱测量 | 第31-40页 |
| 3.1 相位噪声和随机过程 | 第31-33页 |
| 3.1.1 相位噪声 | 第31页 |
| 3.1.2 随机过程 | 第31-33页 |
| 3.2 实验方法 | 第33-35页 |
| 3.3 互谱分析法及仿真 | 第35-38页 |
| 3.3.1 互谱分析法 | 第35-37页 |
| 3.3.2 仿真 | 第37-38页 |
| 3.4 本章总结 | 第38-40页 |
| 第四章 微波光子链路的残余相噪测量研究 | 第40-45页 |
| 4.1 基于双音信号互相关的残余相噪测试理论 | 第40-42页 |
| 4.2 长光纤微波光子链路的残余相噪测量实验 | 第42-44页 |
| 4.3 本章总结 | 第44-45页 |
| 第五章 光电探测器的残余相噪测量研究 | 第45-53页 |
| 5.1 光电探测器的残余相噪测量 | 第45-49页 |
| 5.1.1 测量系统 | 第46-48页 |
| 5.1.2 测量实验 | 第48-49页 |
| 5.2 入射光功率对残余相噪的影响 | 第49-50页 |
| 5.3 反偏电压对残余相噪的影响 | 第50-51页 |
| 5.4 光电探测器非线性与残余相噪的关系 | 第51页 |
| 5.5 本章总结 | 第51-53页 |
| 第六章 总结与展望 | 第53-55页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第53页 |
| 6.2 创新点 | 第53-54页 |
| 6.3 工作展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |