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基于改进粒子群算法的嵌入式软件测试用例自动生成技术

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第12-21页
    1.1 研究背景及意义第12-13页
    1.2 相关技术现状第13-20页
        1.2.1 数据流测试第13-15页
        1.2.2 测试用例生成与评价第15-17页
        1.2.3 嵌入式软件测试第17-20页
    1.3 论文结构组织第20页
    1.4 本章小结第20-21页
第2章 测试用例自动生成技术第21-31页
    2.1 进化性结构测试第21-22页
    2.2 进化性结构测试系统第22-23页
    2.3 常用的优化算法第23-30页
        2.3.1 随机算法第23-25页
        2.3.2 遗传算法第25-26页
        2.3.3 蚁群算法第26-28页
        2.3.4 粒子群算法第28-30页
    2.4 本章小结第30-31页
第3章 针对数据流的测试系统设计第31-40页
    3.1 总体方案第31-32页
    3.2 测试系统详细设计第32-39页
        3.2.1 适应度函数第32-33页
        3.2.2 静态分析第33-36页
        3.2.3 程序插桩第36-37页
        3.2.4 算法模块第37-38页
        3.2.5 输出用例集第38-39页
    3.3 本章小结第39-40页
第4章 粒子群算法改进及实验第40-54页
    4.1 算法改进第40-47页
        4.1.1 粒子群初始化第40-41页
        4.1.2 邻域拓扑第41-44页
        4.1.3 参数设置第44-47页
        4.1.4 混合策略第47页
    4.2 算法相关实验及总结第47-53页
        4.2.1 参数相关实验第47-49页
        4.2.2 算法性能实验第49-51页
        4.2.3 改进后算法总结第51-53页
    4.3 本章小结第53-54页
第5章 算法在FPGA/DSP架构平台中的应用第54-67页
    5.1 综合测试验证平台简介第54-58页
        5.1.1 平台总体架构第54-55页
        5.1.2 平台运行原理第55-58页
    5.2 算法对某DSP通信程序的应用第58-66页
        5.2.1 通信程序简介第58-59页
        5.2.2 基于场景状态图的路径生成第59-61页
        5.2.3 测试用例生成第61-66页
    5.3 本章小结第66-67页
第6章 总结与展望第67-69页
    6.1 本文完成的主要研究工作第67页
    6.2 本文主要的创新点第67-68页
    6.3 进一步的研究工作第68-69页
参考文献第69-74页
致谢第74页

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