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脉冲偏压电弧离子镀Cr-O薄膜制备及其性能研究

摘要第3-4页
Abstract第4页
1 绪论第7-16页
    1.1 氧化铬薄膜研究现状第9-10页
    1.2 氧化铬薄膜制备方法第10-12页
    1.3 电弧离子镀技术第12-14页
    1.4 论文研究内容及意义第14-16页
2 实验设备与表征方法第16-25页
    2.1 实验设备及制备方案第16-19页
    2.2 薄膜表征方法第19-25页
        2.2.1 扫描电子显微镜(SEM)第19-20页
        2.2.2 X射线衍射(XRD)第20页
        2.2.3 电子探针成分分析(EPMA)第20-21页
        2.2.4 X射线光电子能谱(XPS)第21-22页
        2.2.5 纳米压痕(Nanoindentation)第22-23页
        2.2.6 光学性能测试第23-25页
3 氧气流量对Cr-O薄膜结构及性能影响第25-36页
    3.1 薄膜制备第25-26页
    3.2 实验结果与讨论第26-35页
        3.2.1 薄膜表面形貌及厚度第26-28页
        3.2.2 薄膜相结构第28-29页
        3.2.3 薄膜成分第29-30页
        3.2.4 薄膜硬度及弹性模量第30-32页
        3.2.5 薄膜光学性能第32-35页
    3.3 本章小结第35-36页
4 偏压幅值对Cr-O薄膜结构与性能影响第36-49页
    4.1 薄膜制备第36-37页
    4.2 实验结果与讨论第37-48页
        4.2.1 薄膜表面形貌及厚度第37-39页
        4.2.2 薄膜相结构第39-40页
        4.2.3 薄膜成分及其化学价态第40-43页
        4.2.4 薄膜纳米硬度与弹性模量第43-45页
        4.2.5 薄膜光学性能第45-48页
    4.3 本章小结第48-49页
结论第49-50页
展望第50-51页
参考文献第51-55页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况第55-56页
致谢第56-57页

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