SAS硬盘连接器的信号完整性分析与研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 引言 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第12-14页 |
| 1.3 本文主要内容 | 第14-16页 |
| 第二章 信号完整性基础理论 | 第16-35页 |
| 2.1 传输线理论 | 第16-22页 |
| 2.1.1 麦克斯韦方程 | 第16-19页 |
| 2.1.2 传输线的定义与分类 | 第19-20页 |
| 2.1.3 传输线的分析方法 | 第20页 |
| 2.1.4 传输线的信号传输方式 | 第20-22页 |
| 2.2 高速信号差分互连 | 第22-26页 |
| 2.2.1 高速信号 | 第22-24页 |
| 2.2.2 趋肤效应 | 第24-25页 |
| 2.2.3 差分信号传输 | 第25-26页 |
| 2.3 信号完整性分析 | 第26-34页 |
| 2.3.1 影响信号完整性的因素 | 第26-30页 |
| 2.3.2 S参数 | 第30-33页 |
| 2.3.3 时域反射计技术 | 第33-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 SAS硬盘连接器模型建立 | 第35-41页 |
| 3.1 研究对象简介 | 第35-37页 |
| 3.1.1 SAS接口简介 | 第35-36页 |
| 3.1.2 接口引脚功能分配 | 第36-37页 |
| 3.2 连接器模型建立 | 第37-40页 |
| 3.3 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 SAS硬盘连接器信号完整性仿真及优化 | 第41-62页 |
| 4.1 电磁仿真分析方法 | 第41页 |
| 4.2 电磁仿真软件选择与简介 | 第41-42页 |
| 4.3 仿真流程 | 第42-47页 |
| 4.4 信号完整性分析 | 第47-53页 |
| 4.4.1 TDR阻抗 | 第49-50页 |
| 4.4.2 插入损耗 | 第50-51页 |
| 4.4.3 回波损耗 | 第51页 |
| 4.4.4 串扰 | 第51-52页 |
| 4.4.5 分析总结 | 第52-53页 |
| 4.5 SAS硬盘连接器结构优化 | 第53-61页 |
| 4.5.1 连接器接触部分结构优化 | 第53-57页 |
| 4.5.2 连接器插头壳体结构优化 | 第57-60页 |
| 4.5.3 优化总结 | 第60-61页 |
| 4.6 本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 SAS硬盘连接器信号完整性实测分析 | 第62-72页 |
| 5.1 测试设备介绍 | 第62-63页 |
| 5.2 测试仪器校准 | 第63-65页 |
| 5.3 测试夹具设计 | 第65-67页 |
| 5.4 测试结果分析 | 第67-71页 |
| 5.5 本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 6.1 研究总结 | 第72-73页 |
| 6.2 研究展望 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
