电子计算机中电子产品的可靠性研究

摘要	第1-6页
Abstract	第6-9页
第1章 绪论	第9-13页
·研究背景	第9-10页
·电子产品可靠性试验研究现状	第10-12页
·本文章节内容安排	第12-13页
第2章 电子产品可靠性试验概述	第13-17页
·可靠性的研究模型	第13-14页
·可靠性试验的定义	第14页
·可靠性试验的分类及目的	第14-16页
·步进应力加速寿命的试验	第16页
·本章小结	第16-17页
第3章 A电子产品的可靠性试验方案与失效分析	第17-30页
·可靠性试验的一般要求	第17-18页
·试验类型的选择的要求	第17页
·可靠性试验设计的要求	第17页
·试验样品的要求	第17-18页
·试验实施的要求	第18页
·样品的检测要求	第18页
·A电子产品可靠性试验的设计	第18-24页
·试验类型的选择	第18-19页
·定时截尾试验方案的设计	第19-21页
·试验条件的选择及试验周期的设计	第21-24页
·失效分析	第24-27页
·失效分析的目的和意义	第25页
·失效分析的基本内容及要求	第25-26页
·主要失效模式及失效机理	第26-27页
·A电子产品失效分析技术	第27-29页
·以失效分析为目的的电测技术	第27页
·无损失效分析技术	第27-28页
·显微形貌像技术	第28页
·扫描电镜分析技术	第28页
·以测量电压效应为基础的失效分析定位技术	第28页
·以测量电流效应为基础的失效分析定位技术	第28-29页
·A电子产品失效分析的程序	第29页
·本章小结	第29-30页
第4章 A电子产品的可靠性试验过程	第30-45页
·试验方案	第30页
·试验项目	第30-39页
·试验结果与分析	第39-43页
·开关机试验结果与失效分析及改进措施	第39页
·交变湿热试验结果与失效分析及改进措施	第39页
·温度冲击试验结果与失效分析及改进措施	第39-40页
·机械冲击试验与分析及改进措施	第40-41页
·机械振动试验结果与分析及改进措施	第41-42页
·跌落试验结果与分析及改进措施	第42-43页
·静电放电试验结果与分析及改进措施	第43页
·试验总结	第43-45页
第5章 结论与展望	第45-47页
参考文献	第47-51页
致谢	第51页