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面向光控相控阵天线的光纤真时延迟技术研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-11页
第一章 绪论第11-25页
   ·微波光子学与光纤延迟线技术概述第11-12页
   ·光控相控阵天线及国内外研究现状第12-22页
     ·光控微波相移单元及国外研究现状第13-15页
     ·光控微波波束成形网络及国外研究现状第15-21页
     ·光控相控阵技术国内研究现状第21-22页
   ·光纤真时延迟技术及其在光控相控阵天线应用中所面临的问题第22-23页
   ·本文主要工作与安排第23-25页
第二章 光纤延迟线制作工艺第25-35页
   ·高精度光纤延迟线的需求分析第25-27页
   ·精密切割方法制备高精度光纤延迟线第27-30页
     ·用于精密光纤制作的精细刻度光纤夹具平台第27-29页
     ·精密光纤延迟线制作工艺流程第29-30页
   ·拉伸方法实现光纤延迟线精密制作第30-33页
   ·本章小结第33-35页
第三章 高精度光纤延迟线测量第35-53页
   ·精密反射仪工作原理及性能第35-41页
     ·精密反射仪工作原理第35-37页
     ·精密反射仪性能第37-38页
     ·精密反射仪测量方法第38-41页
   ·利用光纤环进行高精度测量第41-52页
     ·利用光纤环提高光纤长度测量精度性能分析第42-49页
     ·实验结果与分析第49-52页
   ·本章小结第52-53页
第四章 大量程光纤延迟线测量第53-73页
   ·引言第53-54页
   ·低相干光干涉仪量程扩展原理第54-56页
     ·多级多路光纤延迟线的参考光结构第54-56页
     ·多级多路光纤延迟线的自检定第56页
   ·光纤延迟线的大量程测量实例第56-65页
     ·光纤长度测量方案第57-61页
     ·光纤长度自检定方案第61-62页
     ·实验结果第62-65页
   ·低相干光大量程测量的误差分析第65-72页
     ·温度对低相干光大量程测量的误差影响第65-66页
     ·累加误差对低相干光大量程测量不确定度的影响第66-72页
   ·本章小结第72-73页
第五章 光纤真时延迟线在微波相移器中的应用第73-91页
   ·光纤真时延迟结构第73-75页
   ·基于光真时延迟线的微波相移器组成第75-77页
   ·微波相移器性能测试第77-83页
     ·延迟测量第78-80页
     ·半导体光放大器开关速度测试第80-81页
     ·半导体光放大器的增益性能及偏振依赖性测试第81-83页
   ·基于级联延迟线的微波相移器噪声测试第83-90页
     ·信噪比测试第84-85页
     ·相位噪声测试第85-90页
   ·本章小结第90-91页
第六章 基于光纤真时延迟线的多波长延迟网络第91-117页
   ·多波长光波束成形的延时网络方案第91-93页
     ·基于光纤技术的多波长光波束成形延时网络第91-92页
     ·快速可编程多波长光波束成形延迟网络第92-93页
   ·用于微波相控阵波束成形的光纤延迟结构的制作与实验验证第93-106页
     ·膜片 DWDM 的基本原理和结构第94-95页
     ·DWDM 通道波分及插损测试第95-96页
     ·DWDM 通道长度测量第96-99页
     ·DWDM 延迟线结构的在线制作第99-100页
     ·DWDM 多通道延迟量测试第100-106页
   ·用于微波相控阵波束成形的光纤延迟结构的性能测试第106-115页
     ·MEMS 光开关速度测试第106-108页
     ·DWDM 级联延迟网络微波信号测试第108-111页
     ·可编程光纤真时延迟网络第111-115页
   ·本章小结第115-117页
第七章 总结与展望第117-121页
   ·本文主要工作第117-118页
   ·本文主要创新点第118-120页
   ·工作展望第120-121页
参考文献第121-132页
附录 符号与标记第132-134页
致谢第134-135页
攻读博士学位期间已发表或录用的论文及其他成果第135-138页

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