摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-11页 |
第一章 绪论 | 第11-25页 |
·微波光子学与光纤延迟线技术概述 | 第11-12页 |
·光控相控阵天线及国内外研究现状 | 第12-22页 |
·光控微波相移单元及国外研究现状 | 第13-15页 |
·光控微波波束成形网络及国外研究现状 | 第15-21页 |
·光控相控阵技术国内研究现状 | 第21-22页 |
·光纤真时延迟技术及其在光控相控阵天线应用中所面临的问题 | 第22-23页 |
·本文主要工作与安排 | 第23-25页 |
第二章 光纤延迟线制作工艺 | 第25-35页 |
·高精度光纤延迟线的需求分析 | 第25-27页 |
·精密切割方法制备高精度光纤延迟线 | 第27-30页 |
·用于精密光纤制作的精细刻度光纤夹具平台 | 第27-29页 |
·精密光纤延迟线制作工艺流程 | 第29-30页 |
·拉伸方法实现光纤延迟线精密制作 | 第30-33页 |
·本章小结 | 第33-35页 |
第三章 高精度光纤延迟线测量 | 第35-53页 |
·精密反射仪工作原理及性能 | 第35-41页 |
·精密反射仪工作原理 | 第35-37页 |
·精密反射仪性能 | 第37-38页 |
·精密反射仪测量方法 | 第38-41页 |
·利用光纤环进行高精度测量 | 第41-52页 |
·利用光纤环提高光纤长度测量精度性能分析 | 第42-49页 |
·实验结果与分析 | 第49-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
第四章 大量程光纤延迟线测量 | 第53-73页 |
·引言 | 第53-54页 |
·低相干光干涉仪量程扩展原理 | 第54-56页 |
·多级多路光纤延迟线的参考光结构 | 第54-56页 |
·多级多路光纤延迟线的自检定 | 第56页 |
·光纤延迟线的大量程测量实例 | 第56-65页 |
·光纤长度测量方案 | 第57-61页 |
·光纤长度自检定方案 | 第61-62页 |
·实验结果 | 第62-65页 |
·低相干光大量程测量的误差分析 | 第65-72页 |
·温度对低相干光大量程测量的误差影响 | 第65-66页 |
·累加误差对低相干光大量程测量不确定度的影响 | 第66-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
第五章 光纤真时延迟线在微波相移器中的应用 | 第73-91页 |
·光纤真时延迟结构 | 第73-75页 |
·基于光真时延迟线的微波相移器组成 | 第75-77页 |
·微波相移器性能测试 | 第77-83页 |
·延迟测量 | 第78-80页 |
·半导体光放大器开关速度测试 | 第80-81页 |
·半导体光放大器的增益性能及偏振依赖性测试 | 第81-83页 |
·基于级联延迟线的微波相移器噪声测试 | 第83-90页 |
·信噪比测试 | 第84-85页 |
·相位噪声测试 | 第85-90页 |
·本章小结 | 第90-91页 |
第六章 基于光纤真时延迟线的多波长延迟网络 | 第91-117页 |
·多波长光波束成形的延时网络方案 | 第91-93页 |
·基于光纤技术的多波长光波束成形延时网络 | 第91-92页 |
·快速可编程多波长光波束成形延迟网络 | 第92-93页 |
·用于微波相控阵波束成形的光纤延迟结构的制作与实验验证 | 第93-106页 |
·膜片 DWDM 的基本原理和结构 | 第94-95页 |
·DWDM 通道波分及插损测试 | 第95-96页 |
·DWDM 通道长度测量 | 第96-99页 |
·DWDM 延迟线结构的在线制作 | 第99-100页 |
·DWDM 多通道延迟量测试 | 第100-106页 |
·用于微波相控阵波束成形的光纤延迟结构的性能测试 | 第106-115页 |
·MEMS 光开关速度测试 | 第106-108页 |
·DWDM 级联延迟网络微波信号测试 | 第108-111页 |
·可编程光纤真时延迟网络 | 第111-115页 |
·本章小结 | 第115-117页 |
第七章 总结与展望 | 第117-121页 |
·本文主要工作 | 第117-118页 |
·本文主要创新点 | 第118-120页 |
·工作展望 | 第120-121页 |
参考文献 | 第121-132页 |
附录 符号与标记 | 第132-134页 |
致谢 | 第134-135页 |
攻读博士学位期间已发表或录用的论文及其他成果 | 第135-138页 |