| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 1 绪论 | 第13-27页 |
| ·微光成像技术发展概述 | 第13-21页 |
| ·微光像增强器成像技术 | 第13-18页 |
| ·微光固态成像器件 | 第18-21页 |
| ·国内外研究现状 | 第21-24页 |
| ·研究背景和目的 | 第24-25页 |
| ·论文的主要工作和内容安排 | 第25-27页 |
| 2 盖革雪崩光电二极管的建模与仿真 | 第27-50页 |
| ·引言 | 第27-28页 |
| ·盖革雪崩光电二极管的结构 | 第28-29页 |
| ·雪崩光电二极管的工作模式 | 第29-31页 |
| ·光电二极管模式 | 第30页 |
| ·雪崩模式 | 第30页 |
| ·盖革模式 | 第30-31页 |
| ·盖革雪崩光电二极管的电气特性参数 | 第31-35页 |
| ·倍增因子 | 第31-32页 |
| ·带宽 | 第32-34页 |
| ·暗计数 | 第34-35页 |
| ·雪崩抑制 | 第35-38页 |
| ·被动抑制电路 | 第35-37页 |
| ·混合抑制电路 | 第37-38页 |
| ·盖革雪崩光电二极管建模与仿真 | 第38-48页 |
| ·盖革雪崩光电二极管的等效电路模型 | 第38-39页 |
| ·盖革雪崩光电二极管模型仿真 | 第39-48页 |
| ·小结 | 第48-50页 |
| 3 盖革雪崩光电二极管的夜天光响应特性研究 | 第50-71页 |
| ·引言 | 第50页 |
| ·夜天光的光谱分布 | 第50-57页 |
| ·夜天光的光谱分布特点 | 第51-52页 |
| ·典型目标在夜天光下的反射光谱分布 | 第52-57页 |
| ·盖革雪崩光电二极管的光学特性参数 | 第57-61页 |
| ·灵敏度 | 第57-59页 |
| ·量子效率 | 第59-60页 |
| ·光子探测概率 | 第60-61页 |
| ·盖革雪崩光电二极管的夜天光响应特性 | 第61-64页 |
| ·夜天光光子辐射出射度分布 | 第61-62页 |
| ·盖革雪崩光电二极管的夜天光响应特性 | 第62-64页 |
| ·盖革雪崩光电二极管与典型目标的光谱匹配 | 第64-70页 |
| ·光谱匹配因子 | 第64页 |
| ·Si盖革雪崩光电二极管与典型目标的匹配结果 | 第64-68页 |
| ·InGaAs盖革雪崩光电二极管与典型目标的匹配结果 | 第68-70页 |
| ·小结 | 第70-71页 |
| 4 基于蒙特卡洛方法的光子计数图像恢复 | 第71-90页 |
| ·引言 | 第71页 |
| ·光子计数事件的概率 | 第71-73页 |
| ·试验次数对光子计数输出的影响 | 第71-72页 |
| ·光子计数值的概率描述 | 第72-73页 |
| ·光子计数分布 | 第73-75页 |
| ·光强恒定情况下的光子计数分布 | 第73-74页 |
| ·光强随时间变化时的光子计数分布 | 第74-75页 |
| ·蒙特卡洛方法实现光子运动过程 | 第75-77页 |
| ·蒙特卡洛方法的基本思想 | 第75-76页 |
| ·蒙特卡洛方法应用形式 | 第76页 |
| ·蒙特卡洛方法生成光子图像过程 | 第76-77页 |
| ·图像恢复 | 第77-89页 |
| ·最小二乘方滤波 | 第78-79页 |
| ·蒙特卡洛方法的图像恢复 | 第79-85页 |
| ·光子计数值与图像灰度的对应关系 | 第85-89页 |
| ·小结 | 第89-90页 |
| 5 盖革雪崩光电二极管在光子计数成像中的应用 | 第90-108页 |
| ·引言 | 第90页 |
| ·GM-APD光子计数成像实验平台搭建 | 第90-95页 |
| ·GM-APD光子计数成像实验平台硬件组成 | 第90-93页 |
| ·GM-APD光子计数成像实验平台的软件实现 | 第93-95页 |
| ·实验研究 | 第95-107页 |
| ·光子计数值与照度关系的标定 | 第95-96页 |
| ·GM-APD光子计数成像实验平台的成像流程 | 第96-97页 |
| ·GM-APD光子计数成像实验平台的成像实验 | 第97-107页 |
| ·小结 | 第107-108页 |
| 6 结论与展望 | 第108-110页 |
| ·结论 | 第108-109页 |
| ·展望 | 第109-110页 |
| 致谢 | 第110-111页 |
| 参考文献 | 第111-120页 |
| 附录 | 第120页 |