符合ISO 18000-6B/C标准的超高频RFID读写器硬件设计与实现
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
目录 | 第7-14页 |
第一章 绪论 | 第14-22页 |
·物联网与 RFID | 第14-15页 |
·物联网与 RFID 技术发展现状 | 第15-16页 |
·国际发展状况 | 第15-16页 |
·国内发展状况 | 第16页 |
·超高频 RFID 技术简介 | 第16-20页 |
·RFID 系统频段划分 | 第16-17页 |
·RFID 与条形码识别技术 | 第17-18页 |
·UHF RFID 技术标准 | 第18-19页 |
·UHF RFID 技术现状 | 第19-20页 |
·超高频 RFID 发展趋势 | 第20页 |
·论文选题背景及组织架构 | 第20-22页 |
·选题背景 | 第20-21页 |
·组织架构 | 第21-22页 |
第二章 总体方案设计 | 第22-34页 |
·超高频 RFID 系统构成 | 第22-24页 |
·系统构成及工作流程 | 第22-23页 |
·系统硬件构成 | 第23-24页 |
·项目开发流程 | 第24-25页 |
·硬件设计方案 | 第25-27页 |
·功能指标 | 第25页 |
·台式读写器硬件设计方案 | 第25-26页 |
·U 盘式读写器硬件设计方案 | 第26-27页 |
·接收架构 | 第27-31页 |
·差分接收电路分析 | 第27-29页 |
·接收盲点消除电路 | 第29-31页 |
·关键技术 | 第31-32页 |
·芯片选型 | 第32-33页 |
·MCU 芯片 | 第32-33页 |
·频率源芯片 | 第33页 |
·小结 | 第33-34页 |
第三章 台式读写器硬件电路设计 | 第34-51页 |
·发射链路 | 第34-42页 |
·本振电路 | 第34-38页 |
·均衡电路 | 第38页 |
·调制与功率放大电路 | 第38-41页 |
·天线选择电路 | 第41-42页 |
·接收链路 | 第42-46页 |
·检波电路 | 第42-43页 |
·差分放大电路 | 第43-45页 |
·比较放大电路 | 第45-46页 |
·基带控制模块 | 第46-47页 |
·电源管理模块 | 第47-48页 |
·PCB 设计 | 第48-50页 |
·PCB 板材的选取及板层结构设计 | 第48-49页 |
·PCB 元器件布局与布线 | 第49-50页 |
·PCB 加工 | 第50页 |
·小结 | 第50-51页 |
第四章 U 盘式读写器硬件电路设计 | 第51-59页 |
·发射链路 | 第51-53页 |
·调制电路 | 第52页 |
·功率放大电路 | 第52-53页 |
·PCB 天线设计 | 第53-56页 |
·倒 F 天线概述 | 第53-54页 |
·基本参数 | 第54页 |
·天线结构设计 | 第54-55页 |
·仿真分析 | 第55-56页 |
·基带控制模块 | 第56页 |
·电源管理模块 | 第56-57页 |
·PCB 设计与加工 | 第57-58页 |
·小结 | 第58-59页 |
第五章 硬件调试与系统测试 | 第59-78页 |
·电源模块调试 | 第59页 |
·基带控制模块调试 | 第59-61页 |
·发射电路调试 | 第61-69页 |
·本振电路调试 | 第61页 |
·功率放大电路调试 | 第61-66页 |
·均衡电路调试 | 第66-67页 |
·低通滤波器调试 | 第67-68页 |
·天线选择电路调试 | 第68页 |
·超高频 PCB 天线调试 | 第68-69页 |
·接收电路调试 | 第69-72页 |
·检波电路调试 | 第69-70页 |
·差分放大电路测试 | 第70-71页 |
·接收盲点消除电路测试 | 第71页 |
·比较放大电路调试 | 第71-72页 |
·系统测试 | 第72-78页 |
·收发信号测试 | 第73-74页 |
·标签识别测试 | 第74-77页 |
·整机功耗测试 | 第77页 |
·测试结果 | 第77-78页 |
第六章 总结 | 第78-79页 |
致谢 | 第79-80页 |
参考文献 | 第80-82页 |