反射电子能量损失能谱学中的Monte Carlo方法和其应用研究
| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-12页 |
| 目录 | 第12-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-83页 |
| ·表面分析物理领域概述 | 第15-19页 |
| ·表面分析领域的历史与发展 | 第15-17页 |
| ·常用表面分析技术 | 第17-19页 |
| ·表面电子能谱学 | 第19-26页 |
| ·表面电子能谱概述 | 第20-22页 |
| ·表面电子能谱仪器 | 第22-26页 |
| ·蒙特卡洛方法研究表面电子能谱 | 第26-82页 |
| ·电子在输运过程中的弹性散射 | 第27-36页 |
| ·电子在输运过程中的非弹性散射 | 第36-43页 |
| ·电子与材料表面的相互作用 | 第43-53页 |
| ·蒙特卡洛模拟步骤 | 第53-61页 |
| ·蒙特卡洛方法在表面电子能谱中的应用 | 第61-68页 |
| ·并行化蒙特卡洛模拟的实现 | 第68-70页 |
| ·马科夫链蒙特卡洛方法 | 第70-82页 |
| ·小结 | 第82-83页 |
| 第2章 表面激发参数 | 第83-129页 |
| ·半经典模型下的表面激发参数 | 第83-94页 |
| ·表面激发定义及发展 | 第83-85页 |
| ·表面效应的理论研究 | 第85-89页 |
| ·两种模型的比较 | 第89-94页 |
| ·建立表面激发参数数据库 | 第94-106页 |
| ·理论计算表面激发参数 | 第95-103页 |
| ·表面激发参数拟合表达式 | 第103-106页 |
| ·粗糙度依赖的表面激发参数 | 第106-128页 |
| ·基于能谱模拟的表面激发参数计算 | 第106-112页 |
| ·有限元三角形网格构建真实表面形貌 | 第112-116页 |
| ·表面形貌对弹性背散射电子能谱的影响 | 第116-123页 |
| ·粗糙样品表面的表面激发参数 | 第123-128页 |
| ·小结 | 第128-129页 |
| 第3章 真实样品的反射电子能量损失谱模拟 | 第129-175页 |
| ·样品表面形貌对反射电子能量损失谱的影响 | 第129-140页 |
| ·反射电子能量损失谱中表面粗糙效应 | 第129-130页 |
| ·反射电子能量损失谱模拟中引入粗糙表面 | 第130-131页 |
| ·样品表面粗糙度与表面激发的关系 | 第131-140页 |
| ·超薄膜材料衬底对反射电子能谱的影响 | 第140-150页 |
| ·多层材料反射电子能谱模拟方法 | 第140-144页 |
| ·表面激发与界面激发 | 第144-150页 |
| ·表面碳污染的反射电子能量损失谱 | 第150-162页 |
| ·SrTiO_3材料表面碳污染 | 第151-152页 |
| ·碳污染层厚度对反射电子能量损失谱的影响 | 第152-162页 |
| ·负微分非弹性散射截面对反射电子能量损失谱的贡献 | 第162-173页 |
| ·物理学中的负值概率问题 | 第162-164页 |
| ·REELS能谱模拟中负值非弹性散射截面影响 | 第164-173页 |
| ·小结 | 第173-175页 |
| 第4章 由反射电子能量损失谱提取光学常数 | 第175-197页 |
| ·反射电子能量损失谱的谱分析反解方法 | 第175-177页 |
| ·逆蒙特卡洛方法原理 | 第177-181页 |
| ·蒙特卡洛模拟的物理模型 | 第178-180页 |
| ·逆蒙特卡洛程序算法 | 第180-181页 |
| ·应用逆蒙特卡洛方法获得Ag的有效能量损失函数 | 第181-186页 |
| ·应用逆蒙特卡洛方法获得SiO_2的光学常数 | 第186-194页 |
| ·小结 | 第194-197页 |
| 第5章 任意结构的局域表面等离激元激发 | 第197-213页 |
| ·外加光场与纳米金属粒子的相互作用 | 第197-201页 |
| ·金属纳米粒子的光学特性及其研究方法 | 第197-199页 |
| ·离散偶极子近似法研究纳米金属粒子光场响应 | 第199-201页 |
| ·电子束诱导的任意结构局域表面等离激元激发 | 第201-212页 |
| ·电子能量损失过程中的离散偶极子近似方法 | 第201-206页 |
| ·任意结构纳米材料的局域表面等离激元激发 | 第206-212页 |
| ·小结 | 第212-213页 |
| 第6章 总结 | 第213-217页 |
| 参考文献 | 第217-241页 |
| 致谢 | 第241-247页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第247-251页 |
