基于模块化设计的智能恒电量腐蚀测试仪
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-25页 |
| ·腐蚀电化学测量 | 第11-19页 |
| ·腐蚀测量中的电化学技术 | 第11-14页 |
| ·计算机在腐蚀电化学测量中的应用 | 第14-19页 |
| ·腐蚀测量中的恒电量技术 | 第19-22页 |
| ·恒电量技术的理论基础 | 第19-20页 |
| ·恒电量激励信号的产生方式 | 第20-21页 |
| ·恒电量测试技术的特点 | 第21-22页 |
| ·模块化设计 | 第22-23页 |
| ·模块化设计的基本概念 | 第22页 |
| ·模块化与系列化 | 第22-23页 |
| ·课题的研究内容及意义 | 第23-25页 |
| 第2章 硬件的模块化结构设计 | 第25-46页 |
| ·概述 | 第25-26页 |
| ·CPU与通讯模块和系统总线 | 第26-32页 |
| ·MCU BUS总线介绍 | 第26-28页 |
| ·CPU与系统总线 | 第28-31页 |
| ·通讯电路 | 第31-32页 |
| ·数模、模数转换模块 | 第32-41页 |
| ·D/A转换电路设计 | 第32-37页 |
| ·A/D转换电路设计 | 第37-41页 |
| ·信号调理模块与恒电量模块设计 | 第41-44页 |
| ·AD522仪表放大器 | 第42-43页 |
| ·高输入阻抗运算放大器CA3140 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第3章 软件设计 | 第46-57页 |
| ·软件设计概述 | 第46页 |
| ·单片机(下位机)系统软件程序的结构 | 第46-48页 |
| ·VISUAL BASIC界面设计 | 第48-50页 |
| ·P C机与单片机的数据通信 | 第50-55页 |
| ·数据通信的基本理论 | 第50-51页 |
| ·PC机通信MS Comm控件的属性 | 第51-52页 |
| ·串行通信的过程 | 第52-55页 |
| ·数据滤波及数据拟合 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第4章 仪器性能综合调试 | 第57-61页 |
| ·硬件调试 | 第57-58页 |
| ·80C31的P1口检查 | 第57页 |
| ·8155的PA口和PC口检查 | 第57-58页 |
| ·A/D和D/A转换调试 | 第58页 |
| ·极化信号放大电路检测 | 第58页 |
| ·模拟实验 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 附录A (攻读学位期间所发表的学术论文目录) | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
