基于磁栅的回转精度检测装置设计及实验研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·课题来源 | 第8页 |
| ·研究背景、目的及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-13页 |
| ·国内外回转精度及其检测技术的研究现状 | 第9-12页 |
| ·磁栅技术的发展及研究现状 | 第12-13页 |
| ·论文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 2 回转精度测量方法与磁栅技术应用研究 | 第15-28页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·回转精度测量方法研究 | 第15-18页 |
| ·打表静态测量法 | 第16页 |
| ·单向动态测量法 | 第16-17页 |
| ·双向动态测量法 | 第17页 |
| ·基于误差分离的圆度误差测量法 | 第17-18页 |
| ·磁栅测量技术及应用研究 | 第18-27页 |
| ·传感器种类 | 第18-19页 |
| ·磁栅式传感器工作原理 | 第19-26页 |
| ·磁栅在回转精度测量上的创新思路 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 3 基于磁栅的回转精度检测系统设计 | 第28-38页 |
| ·引言 | 第28页 |
| ·基于磁栅的测试系统总体设计 | 第28-30页 |
| ·系统总体设计方案 | 第28页 |
| ·磁栅接头问题的解决办法 | 第28-30页 |
| ·验证实验的装置选用 | 第30-35页 |
| ·测试方案的选择 | 第30页 |
| ·传感器的选择 | 第30页 |
| ·数显自直准仪与多面棱体 | 第30-32页 |
| ·模拟回转轴 | 第32-33页 |
| ·PCI 采集卡 | 第33-34页 |
| ·其他辅助部件 | 第34-35页 |
| ·实验平台搭建 | 第35-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 4 基于磁栅的回转精度检测装置实验研究 | 第38-47页 |
| ·引言 | 第38页 |
| ·精度检测系统验证实验 | 第38-39页 |
| ·实验基本原理 | 第38页 |
| ·实验方法及步骤 | 第38-39页 |
| ·实验数据处理及结果分析 | 第39-44页 |
| ·正常情况下的测量 | 第39-42页 |
| ·测头与磁磁尺存在高度偏差时的测量 | 第42页 |
| ·测头与磁条间距增大(或减小)时的测量 | 第42-43页 |
| ·磁头表面有油污的测量 | 第43-44页 |
| ·其他条件下的测量 | 第44页 |
| ·验证结果分析 | 第44-45页 |
| ·基于磁栅的回转精度模拟检测 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 5 结论与展望 | 第47-49页 |
| ·结论 | 第47-48页 |
| ·展望 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 附录 | 第53页 |
