| 第1章 干涉成像光谱技术 | 第1-3页 |
| 中文摘要 | 第3-42页 |
| 1．1 干涉成像光谱技术的产生、发展及最新研究动态 | 第11-23页 |
| 1．2 干涉成像光谱技术原理 | 第23-33页 |
| 1．2．1 干涉图与复原光谱 | 第24-27页 |
| 1．2．2 分辨率与切趾问题 | 第27页 |
| 1．2．2．1 切趾与非切趾时单色光谱线的仪器展宽 | 第27-30页 |
| 1．2．2．2 光谱线的振荡间隔与分辨率 | 第30-32页 |
| 1．2．3 图像数据采集与处理 | 第32-33页 |
| 1．3 空间调制干涉成像光谱技术（SMII） | 第33-42页 |
| 1．3．1 空间调制干涉成像光谱仪原理 | 第33-34页 |
| 1．3．2 横向剪切分束器 | 第34-37页 |
| 1．3．3 潜在高通量空间调制干涉成像光谱仪物理模型 | 第37-39页 |
| 1．3．4 影响SMII干涉图调制度的主要因素 | 第39-41页 |
| 本章小结 | 第41-42页 |
| 第2章 偏振干涉成像光谱技术 | 第42页 |
| 摘要 | 第42-73页 |
| 2．1 单轴晶体光学性质简介 | 第42-47页 |
| 2．1．1 晶体分类及o．e光的折射率 | 第42-43页 |
| 2．1．2 光的双折射现象 | 第43-45页 |
| 2．1．3 主截面、主平面 | 第45-47页 |
| 2．2 偏振干涉成像光谱技术的产生及发展 | 第47-49页 |
| 2．3 新型偏振干涉成像光谱技术原理 | 第49-56页 |
| 2．3．1 新型偏振干涉成像光谱技术原理 | 第49-52页 |
| 2．3．2 新方案（SPIIS）与原方案（狭缝式）的主要区别及创新 | 第52-56页 |
| 2．4 基于Savart板的横向剪切分束器 | 第56-61页 |
| 2．4．1 Savart板 | 第57-58页 |
| 2．4．2 Savart偏光镜 | 第58-60页 |
| 2．4．3 视场补偿型savart偏光镜 | 第60-61页 |
| 2．5 Savart偏光镜光程差及横向剪切量的计算 | 第61-64页 |
| 2．6 基于Wollaston棱镜的角剪切分束器 | 第64-69页 |
| 2．6．1 角剪切量 | 第64-66页 |
| 2．6．2 光程差及条纹间隔 | 第66-68页 |
| 2．6．3 广角Wollaston棱镜 | 第68-69页 |
| 2．7 条纹的定位 | 第69-73页 |
| 本章小结 | 第71-73页 |
| 第3章 超小型稳态偏振干涉成像光谱仪（USPIIS）研究 | 第73页 |
| 摘要 | 第73-96页 |
| 3．1 USPIIS系统设计及参数 | 第73-76页 |
| 3．1．1 USPIIS装置 | 第73-74页 |
| 3．1．2 参数确定 | 第74-76页 |
| 3．2 干涉成像光谱实验及结论分析 | 第76-81页 |
| 3．2．1 实验 | 第76-77页 |
| 3．2．2 光学系统参数计算 | 第77-78页 |
| 3．2．3 干涉图与复原光谱 | 第78-80页 |
| 3．2．4 提高干涉图信噪比及光谱分辨率的主要途径 | 第80-81页 |
| 3．3 USPIIS中偏振化方向对调制度的影响 | 第81-88页 |
| 3．3．1 偏振光强度、振动方向对调制度的影响 | 第82-83页 |
| 3．3．2 USPIIS的调制度 | 第83-85页 |
| 3．3．3 调制度随偏振化方向的变化 | 第85-87页 |
| 3．3．4 偏振化方向允差分析实例 | 第87-88页 |
| 3．3．5 结论 | 第88页 |
| 3．4 USPIIS通量的分析与计算 | 第88-96页 |
| 3．4．1 USPIIS的通量 | 第89-92页 |
| 3．4．2 各种情形下的通量数值 | 第92页 |
| 3．4．2．1 理想情形下的通量 | 第92页 |
| 3．4．2．2 实际情形下的通量计算 | 第92-93页 |
| 3．4．2．3 最大调制度时的通量分析 | 第93-94页 |
| 3．4．3 结论 | 第94-95页 |
| 本章小结 | 第95-96页 |
| 第4章 稳态大视场偏振干涉成像光谱仪（SLPIIS）研究 | 第96页 |
| 摘要 | 第96-109页 |
| 4．1 SLPIIS原理及广角补偿原理 | 第96-98页 |
| 4．2 SLPIIS调制度的分析与计算 | 第98-102页 |
| 4．2．1 λ/2板光轴方向偏离理想方向时o、e光振动面的旋转 | 第98-99页 |
| 4．2．2 SLPIIS中偏振光电矢量的分解与合成 | 第99页 |
| 4．2．2．1 线偏振光电矢量在Savart偏光镜左板中的分解 | 第99-100页 |
| 4．2．2．2 线偏振光在λ/2板中的分解与合成 | 第100页 |
| 4．2．2．3 线偏振光电矢量在Savart偏光镜右板中的分解与合成 | 第100-101页 |
| 4．2．2．4 P_2中电矢量的分解与合成 | 第101页 |
| 4．2．3 SLPIIS中调制度的分析与计算 | 第101-102页 |
| 4．2．4 调制度随偏振化方向、λ/2板光轴取向的变化 | 第102页 |
| 4．3 SLPIIS的通量分析 | 第102-109页 |
| 4．3．1 SLPIIS通量的分析与计算 | 第102-104页 |
| 4．3．1．1 线偏振光在λ/2板中的分解与合成 | 第104页 |
| 4．3．1．2 线偏振光电矢量在Savart偏光镜右板中的分解与合成 | 第104-105页 |
| 4．3．1．3 分析器P_2中电矢量的分解与合成 | 第105-106页 |
| 4．3．2 几种情形下通量的取值 | 第106页 |
| 4．3．2．1 理想情形下的通量取值 | 第106页 |
| 4．3．2．2 实际情形下的通量估算 | 第106-107页 |
| 4．3．3 最大调制度时通量分析计算实例 | 第107-108页 |
| 本章小结 | 第108-109页 |
| 第5章 卫星遥感大气风场的干涉成像光谱探测技术研究摘要 | 第109-128页 |
| 5．1 干涉成像光谱技术测量大气风场原理 | 第109-114页 |
| 5．1．1 气辉（极光）的形成 | 第110-111页 |
| 5．1．2 风场速度、温度的测量 | 第111-113页 |
| 5．1．3 垂直方向风场探测 | 第113-114页 |
| 5．2 计算机仿真实验及误差分析 | 第114-118页 |
| 5．2．1 计算机仿真实验误差分析 | 第114-117页 |
| 5．2．2 结论 | 第117-118页 |
| 5．3 广角迈克耳逊干涉仪（WAMI）探测大气风场 | 第118-122页 |
| 5．3．1 探测原理 | 第118页 |
| 5．3．1．1 迈克耳逊干涉仪的广角补偿原理 | 第118-119页 |
| 5．3．1．2 广角迈氏干涉仪探测风场速度、温度原理 | 第119-120页 |
| 5．3．2 计算实例与装置设想 | 第120-121页 |
| 5．3．3 结论 | 第121-122页 |
| 5．4 Fabry-Perot干涉仪（FPI）探测大气风场 | 第122-128页 |
| 5．4．1 风场速度、温度的FPI测量原理 | 第122-125页 |
| 5．4．2 风场测量特例分析 | 第125-126页 |
| 5．4．3 结论 | 第126-127页 |
| 本章小结 | 第127-128页 |
| 结 论 | 第128-133页 |
| 参考文献 | 第133-140页 |
| 发表论文目录 | 第140-142页 |
| 致 谢 | 第142页 |
