| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| ·研究的背景及意义 | 第10-11页 |
| ·测试生成的发展史及国内外研究现状 | 第11-16页 |
| ·测试生成模式 | 第16-17页 |
| ·本论文的工作及论文结构 | 第17-19页 |
| 第2章 基于模拟的测试生成 | 第19-29页 |
| ·基本原理 | 第19-20页 |
| ·基本概念 | 第20-21页 |
| ·故障模型 | 第21-23页 |
| ·性能评价指标 | 第23-24页 |
| ·典型的测试生成的方法 | 第24-27页 |
| ·代数方法 | 第24页 |
| ·二叉判定树(BDD) | 第24-25页 |
| ·结构化方法 | 第25-26页 |
| ·G-F算法 | 第26-27页 |
| ·基于模拟的测试生成 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 基于蚁群算法的数字电路测试生成 | 第29-43页 |
| ·蚁群算法简介 | 第29-31页 |
| ·蚁群算法基本原理 | 第31-32页 |
| ·算法模型 | 第32-35页 |
| ·数学模型 | 第32-34页 |
| ·算法描述 | 第34-35页 |
| ·基于蚁群算法的数字电路测试生成 | 第35-37页 |
| ·基本蚁群算法的改进 | 第37-40页 |
| ·基本定义 | 第37-39页 |
| ·模型改进 | 第39-40页 |
| ·基于改进的蚁群算法的故障检测 | 第40-41页 |
| ·算法描述 | 第40-41页 |
| ·实验结果及比较 | 第41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第4章 基于粒子群算法的数字电路测试生成 | 第43-54页 |
| ·粒子群算法简介 | 第43-44页 |
| ·粒子群算法的基本原理 | 第44-45页 |
| ·算法模型 | 第45-47页 |
| ·数学模型 | 第45-46页 |
| ·算法描述 | 第46-47页 |
| ·基于粒子群算法的数字电路测试生成算法 | 第47-51页 |
| ·基本粒子群算法的改进 | 第51-52页 |
| ·基于改进的粒子群算法的故障检测 | 第52-53页 |
| ·算法描述 | 第52-53页 |
| ·实验结果及比较 | 第53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 基于蚁群算法和粒子群算法相结合的数字电路测试生成 | 第54-61页 |
| ·蚁群算法和粒子群算法的比较 | 第54-55页 |
| ·蚁群和粒子群相互结合的算法 | 第55-57页 |
| ·基于蚁群和粒子群算法相互结合的数字电路测试生成 | 第57-60页 |
| ·数学模型 | 第57-58页 |
| ·算法描述 | 第58-59页 |
| ·实验结果及比较 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 个人简历 | 第69页 |