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镍钛合金表面a-C:F膜的制备与性能研究

摘要第1-6页
Abstract第6-11页
第1章 绪论第11-21页
   ·本文研究的背景及意义第11页
   ·NiTi合金表面改性技术第11-13页
   ·a-C:F膜的性能特点第13页
   ·a-C:F膜的制备技术第13-18页
     ·a-C:F膜气体源沉积技术第14-15页
     ·a-C:F膜固体源沉积技术第15-18页
   ·a-C:F膜的应用第18-19页
     ·a-C:F膜在生物医用领域的应用第18-19页
     ·a-C:F膜在超大规模集成电路领域的应用第19页
   ·本文的研究内容第19-21页
第2章 a- C:F膜制备及表征方法第21-35页
   ·a-C:F膜的制备方法第21-23页
     ·磁控溅射原理及特点第21-22页
     ·实验装置介绍第22-23页
   ·a-C:F膜表征方法第23-34页
     ·傅立叶红外吸收光谱第24-26页
     ·X射线光电子能谱第26-27页
     ·Raman光谱第27-29页
     ·X射线衍射分析第29页
     ·纳米压痕技术第29-32页
     ·原子力形貌分析第32-33页
     ·电化学分析第33-34页
   ·本章小结第34-35页
第3章 a-C:F膜的制备实验第35-42页
   ·实验方案设计第35-39页
     ·溅射参数选定第35-38页
     ·溅射工艺制定第38-39页
   ·a-C:F膜的制备过程第39-41页
     ·基片前处理第39页
     ·溅射过程第39-41页
   ·本章小结第41-42页
第4章 a-C:F膜的结构和形貌表征第42-68页
   ·a-C:F膜的红外光谱分析第42-46页
     ·PTFE靶的红外光谱第43页
     ·射频功率的影响第43-45页
     ·Ar流量的影响第45-46页
     ·沉积时间的影响第46页
   ·a-C:F膜的X射线光电子能谱分析第46-55页
     ·射频功率的影响第48-53页
     ·Ar流量的影响第53-55页
   ·Raman光谱分析第55-59页
     ·射频功率的影响第55-57页
     ·Ar流量的影响第57-59页
   ·X射线衍射结构分析第59-61页
   ·a-C:F膜表面形貌分析第61-66页
     ·a-C:F膜原子力显微表面形貌分析第61-62页
     ·射频功率的影响第62-64页
     ·Ar流量的影响第64-65页
     ·沉积时间的影响第65-66页
   ·本章小结第66-68页
第5章 a-C:F膜的力学及腐蚀性能第68-82页
   ·a-C:F膜的加载-卸载曲线第68-69页
   ·射频功率对a-C:F膜力学性能的影响第69-73页
     ·不同射频功率下a-C:F膜的加载卸载曲线特性第69-71页
     ·不同射频功率下a-C:F膜的划擦行为第71-73页
   ·Ar流量对a-C:F膜力学性能的影响第73-75页
     ·不同Ar流量下a-C:F膜的加载卸载曲线特性第73-75页
     ·不同Ar流量下a-C:F膜的划擦行为第75页
   ·电化学分析第75-81页
     ·开路电位-时间曲线第76-78页
     ·极化曲线第78-81页
   ·本章小结第81-82页
结论第82-83页
参考文献第83-91页
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果第91-92页
致谢第92页

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