摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第一章 引言 | 第9-18页 |
第一节 THz辐射脉冲的基本性质 | 第9-11页 |
·THz隙和THz辐射 | 第9-10页 |
·THz辐射的基本特性 | 第10-11页 |
第二节 THz辐射脉冲的应用 | 第11-17页 |
·THz技术作为材料的分析和测试手段 | 第11-13页 |
·THz成像技术 | 第13-15页 |
·应用THz"雷达"技术 | 第15页 |
·THz技术应用目前存在的问题 | 第15-17页 |
第三节 本论文的工作 | 第17-18页 |
第二章 THz辐射脉冲的产生与检测 | 第18-31页 |
第一节 THz辐射脉冲的产生 | 第18-23页 |
·光电导天线辐射THz脉冲 | 第18-20页 |
·光学整流机制产生THz脉冲 | 第20-23页 |
第二节 THz辐射脉冲的检测 | 第23-31页 |
·THz辐射脉冲的测量系统 | 第24-25页 |
·光电导天线探测THz辐射 | 第25-28页 |
·电光取样探测THz辐射 | 第28-31页 |
第三章 大孔径光电导天线产生高功率窄带宽THz辐射 | 第31-44页 |
第一节 大孔径光电导天线的饱和理论 | 第31-34页 |
第二节 序列脉冲激发光电导开关 | 第34-35页 |
第三节 分析和讨论 | 第35-44页 |
·载流子寿命和光能流对单脉冲激发产生THz辐射时域波形的影响 | 第36-38页 |
·光能流对序列脉冲激发产生THz辐射时域波形的影响 | 第38-39页 |
·光能流对单脉冲和8脉冲激发下的THz辐射的强度谱的影响 | 第39-40页 |
·光能流对THz辐射在0.3THz处的强度的影响 | 第40-41页 |
·序列脉冲激发下的不同载流子寿命对0.3THz处强度的影响 | 第41-42页 |
·序列脉冲激发下的不同载流子驰豫时间对0.3THz处强度的影响 | 第42页 |
·载流子瞬变迁移率对THz辐射波形的影响 | 第42-43页 |
·结论 | 第43-44页 |
第四章 自由空间电光取样检测THz脉冲的实验研究 | 第44-63页 |
第一节 光整流与电光取样中应注意的几个问题 | 第44-52页 |
·光整流与电光取样中的相位匹配 | 第44-47页 |
·电光取样中的群速度失配(GVM)与频率响应函数 | 第47-48页 |
·晶体方向对THz光整流和电光取样的影响 | 第48-52页 |
第二节 采样测量原理 | 第52-53页 |
第三节 信号处理系统 | 第53-56页 |
第四节 实验系统 | 第56-59页 |
·实验条件 | 第56页 |
·实验光路 | 第56-57页 |
·装置的具体搭建步骤 | 第57-59页 |
第五节 数据获取和结果讨论 | 第59-63页 |
第五章 总结 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-73页 |
攻读学位期间的研究成果 | 第73-74页 |
致谢 | 第74页 |