| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-14页 |
| 第一章 等离子体光谱分析中的悬浮液进样技术 | 第14-30页 |
| 1 引言 | 第14-16页 |
| 2 悬浮液粒径大小对分析性能的影响 | 第16-17页 |
| 3 悬浮液的制备 | 第17-22页 |
| ·研磨方法 | 第17-18页 |
| ·悬浮液的浓度 | 第18-19页 |
| ·悬浮液的均一性及稳定性 | 第19-22页 |
| 4 颗粒粒度和粒度分布的测定 | 第22-23页 |
| 5 校准方法 | 第23-25页 |
| 6 悬浮液在ICP-AES中的雾化 | 第25页 |
| 7 本论文的目的和意义 | 第25-26页 |
| 参考文献 | 第26-30页 |
| 第二章 悬浮进样ICP-AES分析铌酸镁 | 第30-43页 |
| 1 引言 | 第30-31页 |
| 2 实验部分 | 第31-33页 |
| ·仪器及工作条件 | 第31页 |
| ·材料 | 第31-32页 |
| ·试剂及校正方法 | 第32页 |
| ·悬浮液的制备 | 第32-33页 |
| 3 结果与讨论 | 第33-41页 |
| ·颗粒大小分布 | 第33-35页 |
| ·分散剂的选择 | 第35-36页 |
| ·悬浮液酸度和分散剂用量对悬浮液稳定性的影响 | 第36-38页 |
| ·悬浮液稳定性 | 第38-40页 |
| ·分析结果 | 第40-41页 |
| 4 结论 | 第41页 |
| 参考文献 | 第41-43页 |
| 第三章 悬浮进样ICP-AES法同时测定锆钛酸铅镧(PLZT)中的杂质元素 | 第43-53页 |
| 1 引言 | 第43-44页 |
| 2 实验部分 | 第44-46页 |
| ·仪器及工作条件 | 第44页 |
| ·材料、试剂及校正方法 | 第44-45页 |
| ·悬浮液的制备 | 第45-46页 |
| 3 结果与讨论 | 第46-52页 |
| ·颗粒大小分布 | 第46-47页 |
| ·分散剂的选择 | 第47-48页 |
| ·悬浮液酸度和分散剂用量对悬浮液稳定性的影响 | 第48-49页 |
| ·悬浮液稳定性 | 第49页 |
| ·光谱稳定性测试 | 第49-51页 |
| ·分析结果 | 第51-52页 |
| 4 结论 | 第52页 |
| 参考文献 | 第52-53页 |
| 第四章 ICP-AES法直接测定硅溶胶中杂质元素的含量 | 第53-60页 |
| 1 引言 | 第53-54页 |
| 2 实验部分 | 第54-55页 |
| ·仪器及工作条件 | 第54页 |
| ·材料、试剂及校正方法 | 第54-55页 |
| ·悬浮液的制备比对实验 | 第55页 |
| 3 结果与讨论 | 第55-59页 |
| ·分散介质的选择 | 第55-56页 |
| ·硅溶胶粒度及均匀性的观察 | 第56-57页 |
| ·悬浮液酸度对光谱稳定性的影响 | 第57-58页 |
| ·实验样品分析 | 第58-59页 |
| 4 本章小结 | 第59页 |
| 参考文献 | 第59-60页 |
| 在硕士研究生期间发表和待发表的论文 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |