| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| ·薄膜屈曲研究的意义 | 第7-8页 |
| ·纳米薄膜 | 第7页 |
| ·薄膜屈曲研究的意义 | 第7-8页 |
| ·薄膜屈曲的研究成果 | 第8-10页 |
| ·本文的主要工作 | 第10-12页 |
| 第二章 薄膜屈曲理论与实验研究基础 | 第12-26页 |
| ·屈曲的概念及其力学意义 | 第12-13页 |
| ·板的屈曲理论 | 第13-21页 |
| ·薄板的基本微分方程 | 第13-19页 |
| ·矩形板的屈曲 | 第19-21页 |
| ·典型屈曲模式的力学分析 | 第21-24页 |
| ·直线型屈曲 | 第21-22页 |
| ·电话线型屈曲 | 第22-23页 |
| ·圆泡型屈曲 | 第23-24页 |
| ·初始缺陷的影响 | 第24-26页 |
| 第三章 简单结构中的应力波传播 | 第26-33页 |
| ·本构关系 | 第26-27页 |
| ·波动方程 | 第27-28页 |
| ·能量方法 | 第28页 |
| ·波动方程的解 | 第28-29页 |
| ·基本问题的提法和求解 | 第29-30页 |
| ·应力波的反射 | 第30-33页 |
| 第四章 实验设备 | 第33-50页 |
| ·落锤冲击实验装置 | 第33-35页 |
| ·摆锤冲击实验装置 | 第35-37页 |
| ·位移传感器 | 第37-50页 |
| ·电阻应变计的工作原理 | 第37-38页 |
| ·位移传感器 | 第38-50页 |
| 第五章 静载荷作用下薄膜屈曲的实验研究 | 第50-63页 |
| ·不同厚度的Ti 薄膜的屈曲实验 | 第50-59页 |
| ·厚度为200nm 的Ti 膜的循环加载实验 | 第50-55页 |
| ·厚度为200nm 的大载荷屈曲实验 | 第55-56页 |
| ·厚度为100nm 的Ti 膜的屈曲实验 | 第56-58页 |
| ·厚度为50nm 的Ti 膜的屈曲研究 | 第58-59页 |
| ·不同厚度的Ni 膜的屈曲实验 | 第59-60页 |
| ·厚度为200nm 的Ni 膜的屈曲实验 | 第59页 |
| ·厚度为100nm 的Ni 膜的屈曲实验 | 第59-60页 |
| ·Ti/Ni 多层膜的屈曲实验 | 第60-62页 |
| ·小结 | 第62-63页 |
| 第六章 动载荷作用下薄膜屈曲的实验研究 | 第63-73页 |
| ·落锤冲击载荷作用下薄膜屈曲的实验研究 | 第63-68页 |
| ·厚度为200nm 的Ti 膜在冲击载荷作用下的实验研究 | 第63-68页 |
| ·厚度为200nm 的Ni 膜在大载荷冲击下的表面形貌研究 | 第68页 |
| ·摆锤冲击载荷作用下薄膜屈曲的实验研究 | 第68-72页 |
| ·厚度为200nm 的Ti 膜的屈曲实验 | 第68-70页 |
| ·厚度为100nm 的Ti 膜的屈曲实验 | 第70-72页 |
| ·小结 | 第72-73页 |
| 第七章 总结与展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 致谢 | 第77页 |