| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-9页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| ·频率特性的概念 | 第9页 |
| ·频率特性的两种测试方法 | 第9-16页 |
| 2 频率特性测试仪的概述 | 第16-20页 |
| ·频率特性测试仪的基本原理 | 第16页 |
| ·频率特性测试仪的发展历程 | 第16-17页 |
| ·我国频率特性测试仪的市场现状 | 第17-18页 |
| ·论文选题出发点 | 第18页 |
| ·论文选题的理论和实际意义 | 第18-19页 |
| ·本论文完成的工作 | 第19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 3 频率特性测试仪的系统设计 | 第20-25页 |
| ·频率测试仪系统功能概述 | 第20页 |
| ·扫频仪的主要可调参数 | 第20页 |
| ·频率特性测试仪的总体设计方案 | 第20-23页 |
| ·频率特性侧试仪的结构 | 第20-21页 |
| ·模式 1─幅频特性测试模式 | 第21-22页 |
| ·模式 2─普通正弦信号源模式 | 第22页 |
| ·模式 3─正弦扫频信号源模式 | 第22-23页 |
| ·器件、工具和语言的选择 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 4 FPGA 实现 DDS 信号源 | 第25-38页 |
| ·DDS 信号源应该具有的技术指标 | 第25页 |
| ·DDS 频率合成技术简介 | 第25-26页 |
| ·DDS 基本原理及性能特点 | 第25-26页 |
| ·直接数字合成 (DDS) 信号源的实现方案 | 第26页 |
| ·用 FPGA 来实现 DDS 扫频信号源的硬件设计 | 第26-28页 |
| ·频率特性测试仪框图 | 第26页 |
| ·扫频信号源电路的原理及实现 | 第26-27页 |
| ·单片机控制部分 | 第27页 |
| ·LCD 显示模块及打印机与单片机的连接 | 第27-28页 |
| ·FPGA 芯片的程序设计 | 第28-34页 |
| ·FPGA 内部各功能模块设计 | 第28-34页 |
| ·相位累加器模块设计 | 第28-29页 |
| ·寄存器模块设计 | 第29-30页 |
| ·正弦波形数据存储器模块设计 | 第30-34页 |
| ·FPGA 中的顶层电路设计 | 第34页 |
| ·FPGA 芯片引脚功能定义及其配置 | 第34页 |
| ·FPGA 中各功能模块及顶层电路的软件仿真 | 第34-37页 |
| ·相位累计器模块的软件仿真 | 第34页 |
| ·寄存器模块的软件仿真 | 第34-35页 |
| ·波形数据存储器模块的软件仿真 | 第35-36页 |
| ·顶层电路的软件仿真 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 5 频率特性测试电路 | 第38-40页 |
| ·相位检测电路 | 第38页 |
| ·幅频特性测试电路 | 第38-40页 |
| 6 基于 89C52 单片机的控制电路设计 | 第40-56页 |
| ·AT89C52 单片机最小系统 | 第40-42页 |
| ·单片机的外围电路设计 | 第42-51页 |
| ·系统控制部分框图 | 第42-43页 |
| ·单片机键盘电路设计 | 第43-44页 |
| ·单片机与 LCD 的接口电路设计 | 第44-47页 |
| ·单片机与 DDS 信号源的接口电路设计 | 第47页 |
| ·单片机与 D/A 转换器 3 的接口电路设计 | 第47-48页 |
| ·检波电路设计 | 第48-51页 |
| ·单片机软件设计 | 第51-55页 |
| ·主程序设计 | 第51页 |
| ·工作模式 1 子程序设计 | 第51-54页 |
| ·工作模式 2 子程序设计 | 第54-55页 |
| ·工作模式 3 子程序设计 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 7 总结与展望 | 第56-57页 |
| ·总结 | 第56页 |
| ·展望 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-59页 |