高温超导薄膜微波表面电阻测试的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-12页 |
| ·超导简介 | 第8-10页 |
| ·高温超导薄膜及其应用 | 第10-11页 |
| ·高温超导薄膜的性能测试 | 第11页 |
| ·本文内容 | 第11-12页 |
| 第二章 高温超导薄膜的微波表面电阻 | 第12-19页 |
| ·高温超导机理 | 第12-13页 |
| ·高温超导薄膜的电流与电阻机制 | 第13-14页 |
| ·高温超导微波表面电阻的特性 | 第14-19页 |
| 第三章 HTS 薄膜微波表面电阻的测试方法 | 第19-34页 |
| ·高温超导薄膜微波表面电阻的测试方法 | 第19-23页 |
| ·端面替代法 | 第19-21页 |
| ·介质谐振器法 | 第21-22页 |
| ·双蓝宝石介质谐振器法 | 第22-23页 |
| ·蓝宝石介质谐振器法 | 第23-26页 |
| ·改进后的结构 | 第25-26页 |
| ·理论分析 | 第26-32页 |
| ·理论模型 | 第26-28页 |
| ·A、B 值的确定 | 第28-32页 |
| ·固有品质因数Q0的测量 | 第32-34页 |
| 第四章 HTS 薄膜微波表面电阻的测试 | 第34-46页 |
| ·测试谐振器的研制 | 第34页 |
| ·耦合装置的设计 | 第34-40页 |
| ·耦合装置对测试的影响 | 第34-35页 |
| ·耦合装置的结构 | 第35-36页 |
| ·对耦合装置的计算机仿真 | 第36-40页 |
| ·谐振器固有品质因数Q0的计算 | 第40-43页 |
| ·测试系统的组建 | 第43-46页 |
| ·测试前的准备 | 第43-44页 |
| ·组建测试系统 | 第44-46页 |
| 第五章 测试结果及分析 | 第46-52页 |
| ·测试结果 | 第46-49页 |
| ·误差分析 | 第49-52页 |
| 第六章 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55页 |