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高速低噪声锁相时钟恢复电路研究

摘要第1-4页
Abstract(英文摘要)第4-6页
目录第6-10页
第一章 引言第10-14页
   ·通信系统和人类社会第10-11页
   ·论文的出发点第11-12页
   ·论文的主要工作和组织结构第12-14页
第二章 时钟恢复概述第14-33页
   ·时钟恢复基本问题第14-18页
     ·接收端面临的非理想因素第14-15页
     ·数字通信中的编码第15-18页
   ·时钟恢复的性能衡量第18-21页
     ·眼图第18页
     ·抖动特性第18-20页
     ·误码率第20-21页
   ·IEEE 802.3标准第21-23页
     ·发送端定义第21-22页
     ·接收端定义第22-23页
     ·抖动容限定义第23页
   ·常见时钟恢复结构第23-25页
     ·窄带滤波第24页
     ·相位/延迟锁定环路第24-25页
     ·全数字时钟恢复第25页
   ·锁相环简介第25-26页
     ·频率合成第25-26页
     ·时钟恢复第26页
   ·锁相环实现的时钟恢复第26-33页
     ·对环路的要求第26-27页
     ·鉴相器第27-31页
     ·压控振荡器的选择第31-32页
     ·频率捕捉电路第32-33页
第三章 相位噪声和抖动第33-66页
   ·频率稳定度的基本概念第33-41页
     ·相位噪声第34-36页
     ·抖动第36-38页
     ·相位噪声和抖动的关系第38-40页
     ·长期抖动的图示第40-41页
   ·振荡器的相位噪声第41-49页
     ·振荡器中的相位噪声源第41-42页
     ·Leeson/Robins模型第42-43页
     ·Abidi/McNeill/Weigandt/Hajimiri模型第43-46页
     ·Razavi/Dai模型第46-48页
     ·Demir模型第48页
     ·现有模型存在的问题第48-49页
   ·改进的相位噪声模型第49-60页
     ·电源/地噪声和衬底耦合噪声第49-50页
     ·器件噪声的发生机制第50-52页
     ·闪烁噪声优化第52-53页
     ·提出的改进热噪声模型第53-57页
     ·采用新的低噪声环振结构第57-59页
     ·低噪声振荡器设计准则第59-60页
   ·实验验证第60-66页
     ·闪烁噪声优化第60-61页
     ·环路成型热噪声随级数和对管尺寸的变化第61-62页
     ·新型环振的相位噪声第62-63页
     ·测试第63-66页
第四章 时钟恢复优化第66-103页
   ·锁相环的基本单元第66-68页
     ·鉴相器第66页
     ·电荷泵第66-67页
     ·压控振荡器第67页
     ·分频器第67页
     ·低通滤波器第67-68页
   ·连续时间模型第68-79页
     ·记法第68页
     ·2类2阶环路第68-74页
     ·2类3阶环路第74-78页
     ·时域响应优化第78-79页
   ·离散时间模型第79-87页
     ·状态方程法第79-80页
     ·冲激响应不变变换法第80-81页
     ·事件驱动模型第81-83页
     ·3阶环路第83页
     ·环路的稳定性第83-87页
   ·环路的相位噪声传递函数第87-90页
     ·噪声传递函数第87-88页
     ·VCO噪声传递特性第88-89页
     ·参考噪声第89-90页
     ·总输出噪声第90页
   ·从功率谱密度到输山抖动第90-99页
     ·现有的工作第90-91页
     ·相位噪声和抖动的关系:z域的推导第91-93页
     ·VCO噪声第93-97页
     ·参考噪声第97-99页
     ·不稳定情况下的输出抖动第99页
   ·时钟恢复电路参数选择第99-103页
     ·输入数据噪声第100-101页
     ·VCO噪声第101-102页
     ·总输出噪声第102-103页
第五章 电路原型和测试第103-116页
   ·总体结构第103页
   ·时钟恢复环路第103-109页
     ·Savoj鉴相器第104页
     ·不型振荡器第104-106页
     ·高速电荷泵第106-108页
     ·鉴频器第108-109页
     ·环路的仿真结果第109页
   ·辅助电路第109-111页
     ·辅助锁相环第109-110页
     ·PRBS第110页
     ·P2S和S2P第110-111页
   ·测试结果及分析第111-116页
     ·测试结果第111-112页
     ·测试结果分析第112-113页
     ·测试装置和芯片照片第113-116页
第六章 结论和展望第116-118页
   ·对本文工作的总结第116页
   ·值得考虑的新方法第116-118页
参考文献第118-124页
感谢词第124-125页

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