摘要 | 第1-4页 |
Abstract(英文摘要) | 第4-6页 |
目录 | 第6-10页 |
第一章 引言 | 第10-14页 |
·通信系统和人类社会 | 第10-11页 |
·论文的出发点 | 第11-12页 |
·论文的主要工作和组织结构 | 第12-14页 |
第二章 时钟恢复概述 | 第14-33页 |
·时钟恢复基本问题 | 第14-18页 |
·接收端面临的非理想因素 | 第14-15页 |
·数字通信中的编码 | 第15-18页 |
·时钟恢复的性能衡量 | 第18-21页 |
·眼图 | 第18页 |
·抖动特性 | 第18-20页 |
·误码率 | 第20-21页 |
·IEEE 802.3标准 | 第21-23页 |
·发送端定义 | 第21-22页 |
·接收端定义 | 第22-23页 |
·抖动容限定义 | 第23页 |
·常见时钟恢复结构 | 第23-25页 |
·窄带滤波 | 第24页 |
·相位/延迟锁定环路 | 第24-25页 |
·全数字时钟恢复 | 第25页 |
·锁相环简介 | 第25-26页 |
·频率合成 | 第25-26页 |
·时钟恢复 | 第26页 |
·锁相环实现的时钟恢复 | 第26-33页 |
·对环路的要求 | 第26-27页 |
·鉴相器 | 第27-31页 |
·压控振荡器的选择 | 第31-32页 |
·频率捕捉电路 | 第32-33页 |
第三章 相位噪声和抖动 | 第33-66页 |
·频率稳定度的基本概念 | 第33-41页 |
·相位噪声 | 第34-36页 |
·抖动 | 第36-38页 |
·相位噪声和抖动的关系 | 第38-40页 |
·长期抖动的图示 | 第40-41页 |
·振荡器的相位噪声 | 第41-49页 |
·振荡器中的相位噪声源 | 第41-42页 |
·Leeson/Robins模型 | 第42-43页 |
·Abidi/McNeill/Weigandt/Hajimiri模型 | 第43-46页 |
·Razavi/Dai模型 | 第46-48页 |
·Demir模型 | 第48页 |
·现有模型存在的问题 | 第48-49页 |
·改进的相位噪声模型 | 第49-60页 |
·电源/地噪声和衬底耦合噪声 | 第49-50页 |
·器件噪声的发生机制 | 第50-52页 |
·闪烁噪声优化 | 第52-53页 |
·提出的改进热噪声模型 | 第53-57页 |
·采用新的低噪声环振结构 | 第57-59页 |
·低噪声振荡器设计准则 | 第59-60页 |
·实验验证 | 第60-66页 |
·闪烁噪声优化 | 第60-61页 |
·环路成型热噪声随级数和对管尺寸的变化 | 第61-62页 |
·新型环振的相位噪声 | 第62-63页 |
·测试 | 第63-66页 |
第四章 时钟恢复优化 | 第66-103页 |
·锁相环的基本单元 | 第66-68页 |
·鉴相器 | 第66页 |
·电荷泵 | 第66-67页 |
·压控振荡器 | 第67页 |
·分频器 | 第67页 |
·低通滤波器 | 第67-68页 |
·连续时间模型 | 第68-79页 |
·记法 | 第68页 |
·2类2阶环路 | 第68-74页 |
·2类3阶环路 | 第74-78页 |
·时域响应优化 | 第78-79页 |
·离散时间模型 | 第79-87页 |
·状态方程法 | 第79-80页 |
·冲激响应不变变换法 | 第80-81页 |
·事件驱动模型 | 第81-83页 |
·3阶环路 | 第83页 |
·环路的稳定性 | 第83-87页 |
·环路的相位噪声传递函数 | 第87-90页 |
·噪声传递函数 | 第87-88页 |
·VCO噪声传递特性 | 第88-89页 |
·参考噪声 | 第89-90页 |
·总输出噪声 | 第90页 |
·从功率谱密度到输山抖动 | 第90-99页 |
·现有的工作 | 第90-91页 |
·相位噪声和抖动的关系:z域的推导 | 第91-93页 |
·VCO噪声 | 第93-97页 |
·参考噪声 | 第97-99页 |
·不稳定情况下的输出抖动 | 第99页 |
·时钟恢复电路参数选择 | 第99-103页 |
·输入数据噪声 | 第100-101页 |
·VCO噪声 | 第101-102页 |
·总输出噪声 | 第102-103页 |
第五章 电路原型和测试 | 第103-116页 |
·总体结构 | 第103页 |
·时钟恢复环路 | 第103-109页 |
·Savoj鉴相器 | 第104页 |
·不型振荡器 | 第104-106页 |
·高速电荷泵 | 第106-108页 |
·鉴频器 | 第108-109页 |
·环路的仿真结果 | 第109页 |
·辅助电路 | 第109-111页 |
·辅助锁相环 | 第109-110页 |
·PRBS | 第110页 |
·P2S和S2P | 第110-111页 |
·测试结果及分析 | 第111-116页 |
·测试结果 | 第111-112页 |
·测试结果分析 | 第112-113页 |
·测试装置和芯片照片 | 第113-116页 |
第六章 结论和展望 | 第116-118页 |
·对本文工作的总结 | 第116页 |
·值得考虑的新方法 | 第116-118页 |
参考文献 | 第118-124页 |
感谢词 | 第124-125页 |