液相型原子力显微镜的研制及其应用研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第8-23页 |
·纳米科技概述 | 第8-10页 |
·扫描探针显微术的发展历史 | 第10-14页 |
·从光学显微镜到扫描电镜 | 第10-11页 |
·扫描隧道显微镜及其优良特性 | 第11-13页 |
·原子力显微镜 | 第13-14页 |
·在STM和AFM基础上发展的扫描探针显微镜 | 第14-18页 |
·本文的主要研究内容及研究成果 | 第18-23页 |
第二章 液相型原子力显微镜的原理及新方法研究 | 第23-37页 |
·原子力作用机理 | 第23-25页 |
·AFM的工作模式 | 第25-27页 |
·接触模式 | 第25-26页 |
·非接触模式 | 第26页 |
·轻敲模式 | 第26-27页 |
·AFM的微悬臂(探针)及光束偏转法 | 第27-29页 |
·液相型AFM的原理及微探针受力分析 | 第29-34页 |
·液体表面张力及液面抖动影响的克服 | 第34页 |
·扫描方式的选择 | 第34-37页 |
第三章 液相型原子力显微镜的研制 | 第37-53页 |
·液相型原子力显微镜探头设计 | 第37-43页 |
·探针座 | 第37-39页 |
·xyz扫描控制器 | 第39-41页 |
·液体池 | 第41-42页 |
·粗调与微调进给机构 | 第42-43页 |
·扫描与反馈控制电路系统设计 | 第43-49页 |
·控制电路框图 | 第43页 |
·PSD工作原理及前置放大电路 | 第43-45页 |
·Z向反馈控制 | 第45-47页 |
·XY二向扫描控制 | 第47-48页 |
·高压放大电路 | 第48-49页 |
·计算机软、硬件系统 | 第49-53页 |
·计算机A/D&D/A硬件的选用 | 第49页 |
·图像扫描和处理软件 | 第49-53页 |
第四章 系统的精度分析及性能优化研究 | 第53-62页 |
·压电陶瓷的固有非线性 | 第53-54页 |
·压电陶瓷的滞回效应 | 第54-56页 |
·压电陶瓷的爬行现象 | 第56页 |
·压电陶瓷老化的影响 | 第56-58页 |
·光电探测器噪声 | 第58-60页 |
·振动对测量精度的影响 | 第60-62页 |
第五章 液相型原子力显微镜的应用研究 | 第62-73页 |
·液相环境中金属铝的纳米结构图像 | 第62-64页 |
·大气和液相环境中对ZnO膜成像 | 第64-65页 |
·金属铁腐蚀过程的原位测试研究 | 第65-67页 |
·其他部分样品的AFM图像 | 第67-70页 |
·液相型AFM在多孔氧化铝研究中的应用 | 第67-68页 |
·光栅的表面形貌图 | 第68-70页 |
·液相型AFM系统性能总结 | 第70-73页 |
第六章 总结和展望 | 第73-76页 |
·总结 | 第73-75页 |
·课题研究工作展望 | 第75-76页 |
硕士期间发表的论文 | 第76-77页 |
致谢 | 第77页 |