高性能磁盘阵列自修复技术研究
| 摘要 | 第1-12页 |
| ABSTRACT | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-20页 |
| ·课题背景 | 第13-15页 |
| ·国内外研究现状 | 第15-17页 |
| ·S.M.A.R.T 技术研究和应用 | 第15-16页 |
| ·自修复磁盘阵列 | 第16-17页 |
| ·多层RAID 结构 | 第17页 |
| ·课题主要研究内容和创新 | 第17-18页 |
| ·论文组织结构 | 第18-20页 |
| 第二章 磁盘故障模型 | 第20-29页 |
| ·磁盘存储系统构成 | 第20-23页 |
| ·磁盘存储系统结构 | 第20-21页 |
| ·磁盘存储系统故障分布 | 第21-22页 |
| ·磁盘可靠性与存储系统故障的关系 | 第22-23页 |
| ·磁盘故障树模型 | 第23-26页 |
| ·自底向上磁盘故障树模型 | 第23-24页 |
| ·自顶向下故障树模型 | 第24-25页 |
| ·磁盘故障分类 | 第25-26页 |
| ·影响磁盘可靠性的因素 | 第26-28页 |
| ·章节小结 | 第28-29页 |
| 第三章 基于状态监测的磁盘故障预测算法 | 第29-46页 |
| ·磁盘状态监测算法 | 第29-32页 |
| ·磁盘状态监测算法的现状 | 第29-30页 |
| ·磁盘状态监测算法的原理 | 第30-31页 |
| ·基于S.M.A.R.T 属性信息的状态监测流程 | 第31-32页 |
| ·磁盘状态监测属性选择 | 第32-35页 |
| ·环境属性选择 | 第32-33页 |
| ·S.M.A.R.T 技术属性参数的选择 | 第33-35页 |
| ·T~2SU 算法 | 第35-39页 |
| ·T~2SU 算法流程 | 第35-36页 |
| ·磁盘状态相容性的自学习判定算法 | 第36-38页 |
| ·磁盘无故障运行时间预测 | 第38-39页 |
| ·单磁盘工作状态的预测 | 第39-45页 |
| ·T~2US 预测算法环境质量判定 | 第40-42页 |
| ·状态相容性判定流程 | 第42-44页 |
| ·T~2SU 算法预测结果等级化分类 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 自修复磁盘阵列RAID 5T 的设计 | 第46-57页 |
| ·磁盘阵列类型及研究现状 | 第46-48页 |
| ·自修复磁盘阵列RAID 5T | 第48-55页 |
| ·RAID 5T 物理结构 | 第48-51页 |
| ·RAID 5T 数据分布 | 第51-52页 |
| ·RAID 5T 数据迁移及磁盘失效迁移策略 | 第52-55页 |
| ·RAID 5T 自修复效果分析 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 多层RAID 结构 | 第57-65页 |
| ·硬件结构 | 第57-60页 |
| ·多层RAID 系统结构 | 第57-59页 |
| ·数据流程 | 第59-60页 |
| ·系统数据分布 | 第60-64页 |
| ·RAID 6 编码实现 | 第60-62页 |
| ·Liberation 数据生成算法流程 | 第62-63页 |
| ·系统数据分布 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 试验及模拟结果 | 第65-75页 |
| ·可靠性系数 | 第65-66页 |
| ·可靠性系数定义 | 第65页 |
| ·可靠性系数应用实例 | 第65-66页 |
| ·系统可靠性分析 | 第66-67页 |
| ·磁盘状态监测 | 第67-69页 |
| ·RAID 5T 可靠性分析 | 第69-70页 |
| ·多层RAID 模拟结果 | 第70-75页 |
| ·数据分布过程模拟 | 第71-73页 |
| ·系统可靠性 | 第73-75页 |
| 第七章 结束语 | 第75-77页 |
| ·工作总结 | 第75页 |
| ·工作展望 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第82页 |
