深亚微米EoPDH专用集成电路的设计与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·集成电路的发展 | 第12页 |
| ·专用集成电路的定义和特点 | 第12-17页 |
| ·专用集成电路的设计方法 | 第13-15页 |
| ·专用集成电路的设计流程 | 第15-17页 |
| ·本文的主要研究工作和内容安排 | 第17-18页 |
| 第二章 EoPDH专用控制芯片的前端设计 | 第18-28页 |
| ·概述 | 第18页 |
| ·功能描述及各模块功能设计 | 第18-23页 |
| ·功能框图 | 第18-19页 |
| ·E1模块 | 第19-20页 |
| ·以太网模块 | 第20页 |
| ·GFP处理模块 | 第20-22页 |
| ·VCAT&LCAS处理模块 | 第22-23页 |
| ·SDRAM接口 | 第23页 |
| ·EoPDH的RTL设计 | 第23-27页 |
| ·EoPDH的有利于综合的结构划分 | 第23-25页 |
| ·结构设计中的可测试设计 | 第25-26页 |
| ·编写可综合代码应注意的问题 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 EoPDH专用控制芯片的逻辑综合 | 第28-39页 |
| ·综合策略 | 第29-30页 |
| ·工艺库的设置 | 第30-31页 |
| ·综合环境设置 | 第31-33页 |
| ·工作环境 | 第31页 |
| ·线负载模型(Wire Load Model) | 第31-32页 |
| ·端口的驱动和负载特性 | 第32-33页 |
| ·综合设计约束 | 第33-37页 |
| ·设计规则约束 | 第33页 |
| ·设计优化约束 | 第33-37页 |
| ·设计优化 | 第37页 |
| ·解决综合问题及最终综合结果 | 第37-38页 |
| ·解决综合过程中的问题 | 第37页 |
| ·电路的综合结果 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 EOPDH专用控制芯片的验证 | 第39-55页 |
| ·概述 | 第39页 |
| ·EoPDH软硬件协同验证策略 | 第39-40页 |
| ·EOPDH的静态验证 | 第40-52页 |
| ·EoPDH的静态验证流程和策略 | 第40-41页 |
| ·EoPDH的静态时序分析 | 第41-50页 |
| ·形式验证 | 第50-52页 |
| ·EoPDH的动态仿真验证 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 总结与展望 | 第55-57页 |
| ·总结 | 第55页 |
| ·展望 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 攻读硕士期间发表的文章 | 第59页 |
