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Si基SiGe弛豫衬底及SiGe/Si量子阱生长与表征

摘要第1-5页
Abstract第5-11页
第一章 绪论第11-21页
   ·SiGe材料的基本性质第11-13页
   ·SiGe弛豫衬底及SiGe/Si量子阱研究意义与进展第13-17页
   ·本论文的主要工作第17-18页
 参考文献第18-21页
第二章 SiGe/Si量子阱能带理论基础第21-34页
   ·薄膜材料的临界厚度第21-24页
   ·应变对能带结构的调制第24-28页
   ·量子效应与波函数交叠第28-31页
   ·本章小结第31页
 参考文献第31-34页
第三章 Si基SiGe弛豫衬底的制备及表征第34-65页
   ·Si基SiGe弛豫衬底的研究现状第34-37页
   ·SiGe材料生长及表征方法第37-42页
   ·Si基SiGe弛豫衬底的制备第42-61页
     ·Si基SiGe弛豫衬底的制备方法第43-46页
     ·缓冲层生长条件的优化第46-58页
     ·Si基SiGe弛豫衬底的应变调控机理第58-61页
   ·本章小结第61页
 参考文献第61-65页
第四章 Si基SiGe弛豫衬底上量子阱的设计与性质第65-83页
   ·量子阱材料的结构设计第65-70页
     ·能带设计第65-67页
     ·结构优化第67-70页
   ·SiGe/Si量子阱材料的生长和性质第70-80页
     ·SiGe/Si量子阱材料的生长第70-73页
     ·SiGe/Si量子阱材料的光学性质第73-80页
   ·本章小结第80页
 参考文献第80-83页
第五章 总结与展望第83-85页
附录:硕士期间论文发表及专利申请情况第85-86页
致谢第86页

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