数字化脉冲电火花电源设计
摘要 | 第1-9页 |
Abstract | 第9-11页 |
插图索引 | 第11-13页 |
附表索引 | 第13-14页 |
第1章 电火花沉积工艺应用现状 | 第14-24页 |
·电火花沉积工艺 | 第14-17页 |
·电火花表面沉积原理 | 第14-15页 |
·电火花沉积强化工艺特性 | 第15页 |
·电火花表面沉积层的特性 | 第15页 |
·表面形貌 | 第15页 |
·金相组织 | 第15-16页 |
·厚度 | 第16页 |
·化学元素分布 | 第16页 |
·组织结构 | 第16页 |
·显微硬度 | 第16页 |
·耐磨损性 | 第16页 |
·耐蚀性 | 第16-17页 |
·残余应力 | 第17页 |
·电火花表面沉积的应用 | 第17页 |
·电火花沉积国内外研究现状 | 第17-23页 |
·金属材料的表面改性应用 | 第19-20页 |
·精密机械零部件表面的尺寸恢复 | 第20-21页 |
·材料表面的异种材料堆焊 | 第21-22页 |
·电火花沉积电源的发展 | 第22-23页 |
·对电火花放电现象的不同观点 | 第23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第2章 电火花沉积电源的主电路设计 | 第24-49页 |
·数字逆变电源技术 | 第24-25页 |
·数字化逆变电源特点及优点 | 第24-25页 |
·数字化逆变电源的关键技术 | 第25页 |
·主电路的数字化 | 第25页 |
·外特性控制系统的数字化 | 第25页 |
·主电路逆变结构选型 | 第25-47页 |
·开关频率的选择 | 第27页 |
·半桥逆变主电路稳定工作的条件分析 | 第27-29页 |
·功率开关管IGBT的工作状态分析 | 第29-30页 |
·主电路及其工作原理 | 第30-31页 |
·整流电路及整流二极管 | 第31-32页 |
·滤波电路 | 第32-33页 |
·主电路参数计算及元器件选型 | 第33页 |
·电源输入电缆、开关和整流器的选择 | 第33-34页 |
·直流侧主电路分析计算 | 第34-35页 |
·功率开关器件的选择 | 第35-37页 |
·IGBT的特性 | 第37-40页 |
·高频变压器的设计 | 第40-42页 |
·脉宽调制电路设计 | 第42-45页 |
·功率驱动电路 | 第45-46页 |
·冷却方式确定及风扇的驱动 | 第46-47页 |
·旋转沉积枪机械剖图 | 第47-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
第3章 电火花沉积电源控制系统电路设计 | 第49-62页 |
·控制芯片的选择及96单片机的特点 | 第49-51页 |
·单片机的种类及性能 | 第50页 |
·单片机的选型 | 第50-51页 |
·单片机系统硬件构成及功能模块 | 第51-57页 |
·单片机系统的设计原则 | 第51-52页 |
·控制系统的硬件组成 | 第52-53页 |
·单片机最小系统 | 第53-54页 |
·信号采集电路 | 第54-55页 |
·综合保护电路 | 第55-56页 |
·参数预置与显示电路 | 第56-57页 |
·变频脉冲控制电路 | 第57页 |
·单片机的软件系统设计 | 第57-61页 |
·系统软件设计原则 | 第57-58页 |
·电火花沉积电源软件设计主要模块 | 第58-59页 |
·控制系统软件设计框图 | 第59页 |
·PI控制算法 | 第59-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第4章 控制系统的抗干扰措施 | 第62-69页 |
·干扰产生的原因及危害 | 第62-63页 |
·硬件抗干扰措施 | 第63-66页 |
·单片机最小系统抗干扰 | 第63-64页 |
·主电路过程通道影响及解决方案 | 第64页 |
·控制电路过程通道影响及解决方案 | 第64-65页 |
·空间干扰 | 第65页 |
·电源抗干扰 | 第65-66页 |
·软件抗干扰措施 | 第66-68页 |
·监视定时器(WDT) | 第66-67页 |
·冗余指令 | 第67页 |
·数字滤波 | 第67-68页 |
·本章小结 | 第68-69页 |
第5章 系统调试及完善建议 | 第69-73页 |
·脱机调试 | 第69-71页 |
·系统调试 | 第69页 |
·驱动输出波形检查 | 第69-70页 |
·保护电路实验 | 第70-71页 |
·联机调试 | 第71-72页 |
·对系统进一步完善的建议 | 第72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
结论 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
附录A(攻读学位期间所发表的学术论文目录) | 第78页 |