LDPC码在SRAM加固中的应用研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| ·课题背景 | 第8-9页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第9-13页 |
| ·软错误发生机理 | 第9-11页 |
| ·SRAM加固的现状 | 第11-13页 |
| ·纠错编码的发展 | 第13-14页 |
| ·本文主要研究内容及结构 | 第14-15页 |
| 第2章 LDPC码概述 | 第15-22页 |
| ·纠错编码基本概念 | 第15-17页 |
| ·线性分组码 | 第15-16页 |
| ·循环码 | 第16-17页 |
| ·LDPC码简介 | 第17-19页 |
| ·LDPC码定义 | 第17-18页 |
| ·LDPC泰纳图表示 | 第18-19页 |
| ·LDPC码常用构造方案 | 第19-21页 |
| ·Gallager LDPC码[36] | 第19-20页 |
| ·Mackay LDPC码[37,38] | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 LDPC码加固SRAM | 第22-46页 |
| ·编码器设计 | 第23-29页 |
| ·码生成多项式 | 第23-27页 |
| ·编码方案 | 第27-29页 |
| ·译码器设计 | 第29-39页 |
| ·大数逻辑译码 | 第30-33页 |
| ·译码方案 | 第33-39页 |
| ·探测器设计 | 第39-42页 |
| ·压缩型EG_LDPC码 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 可靠性和性能分析 | 第46-56页 |
| ·编译码器功能仿真 | 第46-47页 |
| ·故障注入仿真验证 | 第47-50页 |
| ·纠错性价比与检错性价比 | 第50-52页 |
| ·平均失效时间与平均可检测时间 | 第52-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 致谢 | 第62页 |