存储系统容错及阵列编码
| 中文摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·问题的背景 | 第12-13页 |
| ·系统的指标参数及影响 | 第13-15页 |
| ·本文的工作 | 第15页 |
| ·本文的结构 | 第15-18页 |
| 第二章 容错存储系统及其可靠性 | 第18-26页 |
| ·阵列系统的原理及问题的分析 | 第18-21页 |
| ·修复模型及可靠性 | 第21-26页 |
| 第三章 存储系统容错编码理论基础 | 第26-56页 |
| ·编码理论基本知识 | 第26-30页 |
| ·线性分组编码 | 第26页 |
| ·生成矩阵与校验矩阵 | 第26-27页 |
| ·海明距离 | 第27页 |
| ·编码的容错能力 | 第27-28页 |
| ·多项式码 | 第28页 |
| ·循环码 | 第28页 |
| ·系统码 | 第28-29页 |
| ·Singleton界与MDS码 | 第29-30页 |
| ·RAID | 第30-33页 |
| ·RAID基本原理 | 第30页 |
| ·RAID级别 | 第30-33页 |
| ·多容错编码与数据读写 | 第33-34页 |
| ·存储系统多容错编码 | 第34-53页 |
| ·Reed-Solomon码 | 第35-37页 |
| ·二进制线性编码 | 第37-40页 |
| ·奇偶校验阵列码 | 第40-53页 |
| ·小结 | 第53-56页 |
| 第四章 阵列码的组合描述 | 第56-76页 |
| ·图论相关概念 | 第56-57页 |
| ·拉丁方 | 第57-59页 |
| ·BIBD、RBIBD以及NRB | 第59-61页 |
| ·存储容错编码模型 | 第61-76页 |
| ·存储容错编码的特点 | 第61页 |
| ·容错编码的模型 | 第61-76页 |
| 第五章 校验可分的阵列码 | 第76-106页 |
| ·校验可分的阵列码 | 第76-78页 |
| ·校验可分的阵列码的解码与置换向量方程 | 第78-82页 |
| ·双容错拉丁码 | 第82-94页 |
| ·拉丁码的定义 | 第82-86页 |
| ·拉丁码的系统化 | 第86-94页 |
| ·多容错拉丁码 | 第94-99页 |
| ·码的构造 | 第94-96页 |
| ·编码标准化 | 第96-97页 |
| ·LSPQ(k)码的容错能力 | 第97-99页 |
| ·层叠拉丁码的构造 | 第99-103页 |
| ·小结 | 第103-106页 |
| 第六章 循环阵列码的构造 | 第106-124页 |
| ·循环阵列码 | 第106-110页 |
| ·循环阵列码的定义 | 第106页 |
| ·循环阵列码的代数表示 | 第106-110页 |
| ·最长最低密度MDS阵列码及其结构性质 | 第110-120页 |
| ·2容错的最长最低密度MDS阵列码 | 第111-114页 |
| ·3容错的最长最低密度MDS阵列码 | 第114-120页 |
| ·其它3容错最长最低密度MDS阵列码 | 第120页 |
| ·小结 | 第120-124页 |
| 第七章 对于一些非MDS码的可靠性分析 | 第124-132页 |
| ·FULL-2码的图表示 | 第124-125页 |
| ·FULL-2码的可靠性分析模型 | 第125-126页 |
| ·Bad错的概率分析 | 第126-129页 |
| ·FULL-2码可靠性的数值计算 | 第129-132页 |
| 第八章 总结与展望 | 第132-136页 |
| ·总结 | 第132页 |
| ·关于码长的一些讨论 | 第132-133页 |
| ·进一步需要研究的问题 | 第133-136页 |
| 参考文献 | 第136-144页 |
| 作者在攻读博士期间发表和完成的论文题录 | 第144-146页 |
| 致谢 | 第146页 |
