基于CCD的荧光微阵列芯片检测装置的设计
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 论文研究目标和研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 荧光微阵列芯片检测原理 | 第15-21页 |
| 2.1 微阵列芯片 | 第15-18页 |
| 2.1.1 微阵列芯片简介 | 第15-16页 |
| 2.1.2 荧光产生的原理 | 第16-18页 |
| 2.2 微阵列芯片检测方式 | 第18-20页 |
| 2.2.1 激光共聚焦检测方式 | 第18-19页 |
| 2.2.2 CCD检测方式 | 第19-20页 |
| 2.3 本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 荧光微阵列芯片检测装置的设计 | 第21-44页 |
| 3.1 检测装置的总体结构 | 第21-22页 |
| 3.2 光学引擎设计 | 第22-30页 |
| 3.2.1 光源的选择评估 | 第22-23页 |
| 3.2.2 机械结构设计 | 第23-24页 |
| 3.2.3 滤光片组合系统设计 | 第24-28页 |
| 3.2.4 荧光采集通道设计 | 第28-30页 |
| 3.3 检测装置的硬件电路设计 | 第30-34页 |
| 3.3.1 硬件控制总体 | 第30页 |
| 3.3.2 STM32 | 第30-31页 |
| 3.3.3 温度控制电路 | 第31-33页 |
| 3.3.4 步进电机 | 第33-34页 |
| 3.3.5 人机界面 | 第34页 |
| 3.4 检测装置的控制软件设计 | 第34-39页 |
| 3.4.1 RTOS | 第34-36页 |
| 3.4.2 软件控制总体流程 | 第36-37页 |
| 3.4.3 温度控制电路流程 | 第37-38页 |
| 3.4.4 步进电机流程 | 第38页 |
| 3.4.5 人机界面流程 | 第38-39页 |
| 3.5 仪器标准曲线的测定 | 第39-43页 |
| 3.5.1 标准曲线定义 | 第39页 |
| 3.5.2 常用拟合方法 | 第39-41页 |
| 3.5.3 误差分析及结论 | 第41-43页 |
| 3.6 样机整体结构 | 第43页 |
| 3.7 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 荧光微阵列图像的处理 | 第44-59页 |
| 4.1 微阵列图像处理简介 | 第44页 |
| 4.2 图像网格化介绍 | 第44-45页 |
| 4.3 微阵列图像网格化新方法 | 第45-55页 |
| 4.3.1 图像的预处理 | 第45-46页 |
| 4.3.2 角度旋转及点直径估计 | 第46-49页 |
| 4.3.3 子序列检测 | 第49-51页 |
| 4.3.4 微阵列点检测 | 第51-52页 |
| 4.3.5 模型建立及网格化过程 | 第52-54页 |
| 4.3.6 网格过程优化 | 第54-55页 |
| 4.4 微阵列图像网格化结果 | 第55-57页 |
| 4.4.1 网格化结果的对比 | 第55-57页 |
| 4.4.2 网格化对后续数据处理的重要意义 | 第57页 |
| 4.5 微阵列图像的信息提取 | 第57-58页 |
| 4.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 微阵列芯片检测装置性能评测及应用 | 第59-69页 |
| 5.1 实验设计与分析 | 第59-67页 |
| 5.1.1 灵敏度测试 | 第59-60页 |
| 5.1.2 分辨率测试 | 第60-61页 |
| 5.1.3 重复性测试 | 第61-64页 |
| 5.1.4 噪声测试 | 第64-65页 |
| 5.1.5 均匀度测试 | 第65-66页 |
| 5.1.6 对比度测试 | 第66-67页 |
| 5.2 检测装置的应用 | 第67-68页 |
| 5.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 总结 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 个人简历 | 第76-77页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第77页 |
