平面多层结构的VSIE矩量法及频率扫描算法
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
1.1 研究背景 | 第10页 |
1.2 本课题研究现状 | 第10-12页 |
1.3 本文的主要内容及贡献 | 第12-14页 |
第二章 积分方程和矩量法原理 | 第14-30页 |
2.1 引言 | 第14页 |
2.2 电场积分方程 | 第14-16页 |
2.2.1 PEC的EFIE | 第14-15页 |
2.2.2 介质体的VIE | 第15-16页 |
2.3 矩量法原理 | 第16-17页 |
2.4 基函数和测试函数介绍 | 第17-22页 |
2.4.1 Pulse基函数 | 第17-18页 |
2.4.2 屋顶(Roof-top)基函数 | 第18页 |
2.4.3 RWG基函数 | 第18-19页 |
2.4.4 SWG基函数 | 第19-20页 |
2.4.5 Prism基函数 | 第20-22页 |
2.5 阻抗矩阵元素与右端项 | 第22-23页 |
2.5.1 EFIE与VIE的离散 | 第22-23页 |
2.5.2 阻抗矩阵元素的生成 | 第23页 |
2.5.3 右端项的生成 | 第23页 |
2.6 矩阵方程求解与远场RCS计算 | 第23-26页 |
2.6.1 矩阵方程求解方法 | 第23-25页 |
2.6.2 雷达散射截面积(RCS)计算 | 第25-26页 |
2.7 数值算例 | 第26-28页 |
2.8 本章小结 | 第28-30页 |
第三章 平面多层结构的积分方程 | 第30-54页 |
3.1 引言 | 第30页 |
3.2 介质-导体的VSIE推导 | 第30-33页 |
3.3 基函数选取 | 第33-36页 |
3.4 阻抗矩阵元素与右端项 | 第36-41页 |
3.4.1 VSIE的离散与测试 | 第36-38页 |
3.4.2 阻抗矩阵元素生成 | 第38-40页 |
3.4.3 右端项的测试 | 第40-41页 |
3.5 数值积分展开式 | 第41-44页 |
3.5.1 三角形单元上的数值积分 | 第41-43页 |
3.5.2 矩形单元的数值积分 | 第43-44页 |
3.5.3 直三棱柱单元的数值积分 | 第44页 |
3.6 奇异项处理与远场RCS计算 | 第44-50页 |
3.6.1 奇异项处理 | 第44-49页 |
3.6.2 雷达散射截面积(RCS)计算 | 第49-50页 |
3.7 数值算例 | 第50-53页 |
3.8 本章小结 | 第53-54页 |
第四章 频率扫描中的VSIE矩阵插值算法 | 第54-68页 |
4.1 引言 | 第54页 |
4.2 三次多项式的内插外推方法 | 第54-55页 |
4.3 基于VSIE的阻抗矩阵元素的插值方案 | 第55-61页 |
4.3.1 阻抗矩阵元素随频率的变化特性 | 第55-56页 |
4.3.2 VSIE中的插值方案 | 第56-61页 |
4.4 数值算例 | 第61-67页 |
4.5 本章小结 | 第67-68页 |
第五章 总结与展望 | 第68-70页 |
5.1 总结 | 第68页 |
5.2 展望 | 第68-70页 |
致谢 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
作者简介 | 第76页 |