| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 多铁材料 | 第10-11页 |
| 1.1.1 多铁材料的研究现状 | 第10页 |
| 1.1.2 多铁材料的应用 | 第10-11页 |
| 1.2 La2Ti2O7(LTO)研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 LTO的晶体结构及应用 | 第11-12页 |
| 1.2.2 LTO单晶生长及性能研究 | 第12-13页 |
| 1.2.3 LTO多晶陶瓷的研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 单晶生长方法简介 | 第15-17页 |
| 1.4 电介质理论基础 | 第17-18页 |
| 1.5 研究目的 | 第18-19页 |
| 1.6 本文结构 | 第19-20页 |
| 第二章 La_2Ti_(2-x)Ta_xO_7(x=0,0.02)单晶生长及晶体表征 | 第20-33页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 实验部分 | 第20-24页 |
| 2.2.1 晶体生长设备 | 第20-21页 |
| 2.2.2 晶体测试仪器 | 第21-22页 |
| 2.2.3 多晶料棒制备 | 第22-23页 |
| 2.2.4 晶体生长 | 第23-24页 |
| 2.3 晶体生长的因素 | 第24-28页 |
| 2.3.1 粉料的预烧温度 | 第24-25页 |
| 2.3.2 晶体生长速度 | 第25-26页 |
| 2.3.3 温场的影响 | 第26页 |
| 2.3.4 晶体生长气氛 | 第26-27页 |
| 2.3.5 生长条纹 | 第27-28页 |
| 2.4 单晶物性表征 | 第28-32页 |
| 2.4.1 Ta-LTO单晶成分表征 | 第28-29页 |
| 2.4.2 LTO晶体的质量表征 | 第29-30页 |
| 2.4.3 Ta-LTO晶体生长方向 | 第30-31页 |
| 2.4.4 透过率测试 | 第31-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 La_2Ti_(2-x)Ta_xO_7(x=0,0.02)单晶的介电性能及相变分析 | 第33-46页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 实验部分 | 第33-34页 |
| 3.3 LTO及Ta-LTO单晶的结构及介电性能 | 第34-44页 |
| 3.3.1 Ta-LTO单晶结构分析 | 第34页 |
| 3.3.2 Ta-LTO单晶氧空位相关的介电异常分析 | 第34-38页 |
| 3.3.3 LTO晶体的相变分析 | 第38-40页 |
| 3.3.4 LTO单晶的拉曼光谱分析 | 第40-44页 |
| 3.4 LTO晶体的铁电性能分析 | 第44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 La_2Ti_(2-x)Ta_xO_7(x=0,0.05,0.2)陶瓷的介电性能研究 | 第46-51页 |
| 4.1 引言 | 第46页 |
| 4.2 实验部分 | 第46-47页 |
| 4.2.1 样品制备 | 第46页 |
| 4.2.2 测试仪器 | 第46-47页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第47-49页 |
| 4.4 本章小结 | 第49-51页 |
| 第五章 结论与展望 | 第51-53页 |
| 5.1 结论 | 第51-52页 |
| 5.2 展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 攻读学位期间所开展的科研项目和发表的学术论文 | 第59页 |
