基于图像处理的TFT-LCD Mura缺陷检测算法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 TFT-LCD结构 | 第10-11页 |
| 1.3 TFT-LCD的缺陷种类 | 第11-12页 |
| 1.4 Mura缺陷 | 第12-13页 |
| 1.4.1 Mura缺陷检测方法的研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4.2 Mura缺陷的检测难点 | 第13页 |
| 1.5 本文的主要工作与结构安排 | 第13-15页 |
| 第二章 图像处理相关理论 | 第15-30页 |
| 2.1 图像的灰度变换 | 第15-18页 |
| 2.1.1 直方图均衡化 | 第15-16页 |
| 2.1.2 图像的灰度拉伸 | 第16-18页 |
| 2.2 图像的背景抑制 | 第18-22页 |
| 2.2.1 频域低通滤波变换 | 第18-21页 |
| 2.2.2 基于奇异值分解（SVD）的背景重建 | 第21-22页 |
| 2.3 不均匀光照校正 | 第22-28页 |
| 2.3.1 顶帽变换 | 第22-25页 |
| 2.3.2 灰度均衡 | 第25-26页 |
| 2.3.3 同态滤波变换 | 第26-28页 |
| 2.4 图像分割方法 | 第28-30页 |
| 第三章 Mura缺陷的检测 | 第30-43页 |
| 3.1 TFT-LCD图像采集系统 | 第30-31页 |
| 3.2 Mura缺陷检测 | 第31-39页 |
| 3.2.1 Mura缺陷检测中的预处理 | 第31-38页 |
| 3.2.2 Mura缺陷检测流程 | 第38-39页 |
| 3.3 Mura缺陷检测算法的实验效果与分析 | 第39-43页 |
| 第四章 总结和展望 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 致谢 | 第47页 |
