基于数字图像处理的位移变形测量方法的研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一篇 文献综述 | 第8-11页 |
| 第一章 研究现状及内容 | 第8-11页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究进展 | 第9-11页 |
| 第二篇 研究内容 | 第11-64页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| 1.1 基于图像处理技术位移和应变测量方法的优点 | 第11页 |
| 1.2 基于图像处理技术位移和应变测量方法的思路 | 第11-12页 |
| 1.3 研究内容 | 第12页 |
| 1.4 技术路线和本文工作 | 第12-15页 |
| 第二章 传统的位移和应变测量方法 | 第15-28页 |
| 2.1 电阻应变测量方法 | 第15-16页 |
| 2.2 基于激光干涉技术的测量方法 | 第16-20页 |
| 2.2.1 电子散斑干涉测量方法 | 第16-17页 |
| 2.2.2 密栅云纹方法 | 第17-19页 |
| 2.2.3 相干梯度敏感方法（CGS） | 第19-20页 |
| 2.3 数字图像相关方法 | 第20-26页 |
| 2.3.1 相似系数 | 第22-23页 |
| 2.3.2 位移测量 | 第23-25页 |
| 2.3.4 位移测量 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 基于SIFT特征的全场位移和应变测量方法 | 第28-45页 |
| 3.1 图像局部不变检测与匹配技术 | 第28-34页 |
| 3.1.1 图像局部的不变特征描述 | 第28-29页 |
| 3.1.2 SIFT特征检测算法 | 第29-34页 |
| 3.2 基于SIFT特征的位移与应变测量方法 | 第34-38页 |
| 3.2.1 基本算法 | 第34-37页 |
| 3.2.2 算法的改进 | 第37-38页 |
| 3.3 实验结果分析 | 第38-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 基于边缘特征的结构测量方法 | 第45-54页 |
| 4.1 边缘特征及直线检测算法 | 第45-47页 |
| 4.2 基于边缘特征的结构测量方法 | 第47-49页 |
| 4.3 实验结果分析 | 第49-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 位移和应变测量软件设计 | 第54-63页 |
| 5.1 系统简介和基本技术要求 | 第54页 |
| 5.2 系统设计与实现 | 第54-58页 |
| 5.2.1 系统功能设计 | 第54-55页 |
| 5.2.2 系统设计原则 | 第55-56页 |
| 5.2.3 系统开发环境 | 第56-57页 |
| 5.2.4 系统功能模块设计 | 第57页 |
| 5.2.5 系统业务流程设计 | 第57-58页 |
| 5.3 系统演示 | 第58-60页 |
| 5.3.1 主界面 | 第58页 |
| 5.3.2 配置加载界面 | 第58-59页 |
| 5.3.3 执行界面 | 第59-60页 |
| 5.3.4 处理结果界面 | 第60页 |
| 5.4 系统测试 | 第60-63页 |
| 5.4.1 测试目的 | 第60-61页 |
| 5.4.2 测试步骤 | 第61-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 作者简介 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
